Please use this identifier to cite or link to this item: http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/8381
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorสมชัย รัตนธรรมพันธ์-
dc.contributor.authorชุมพล อันตรเสน-
dc.contributor.otherจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์-
dc.contributor.otherจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์-
dc.date.accessioned2008-10-29T02:20:17Z-
dc.date.available2008-10-29T02:20:17Z-
dc.date.issued2547-
dc.identifier.urihttp://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/8381-
dc.description.abstractโครงการวิจัยนี้ได้ทำการศึกษาการปลูกผลึกอิพิแทกซี InAs บนแผ่นผลึกฐานเริ่มต้น (100) GaAs ด้วยวิธีการปลูกผลึกจากลำโมเลกุล ซึ่งคุณสมบัติเชิงไฟฟ้าของชั้นผลึกอิพิแทกซี InAs เป็นสารกึ่งตัวนำชนิดเอ็น (n-type) มีค่าความเข้มข้นพาหะอยู่ในช่วง 2.2x10[superscript 16]-8x10[superscript 16] cm[superscript -3] ค่าความคล่องตัวเฉพาะ 5,400-6,800 cm[superscript 2] V[superscript -1] s[superscript -1] ค่าความไวผลตอบสนองแม่เหล็ก 0.8-1.4x10 [superscript -5] Volt/Gauss โดยผลที่ได้นั้นขึ้นกับเงื่อนไขที่ใช้ในการปลูกผลึก ได้แก่ ค่าอุณหภูมิแผ่นผลึกฐานะทำการปลูกผลึก ค่าอัตราส่วน BEP ของ As [subscript 4]/In และค่าอัตราการปลูกผลึก นอกจากนี้คุณภาพผิวหน้าผลึก (Surface morphology) ที่ได้ก็ขึ้นกับเงื่อนไขดังกล่าวด้วยเช่นเดียวกัน สำหรับเงื่อนไขที่เหมาะสมในการปลูกผลึกอิพิแทกซี InAs บนแผ่นผลึกฐานเริ่มต้น (100) GaAs ที่มีคุณภาพผิวหน้าผลึกที่ดี ค่าความคล่องตัวพาหะ และค่าความไวผลตอบสนองแม่เหล็กสูงมีดังต่อไปนี้คือ ค่าอุณหภูมิแผ่นผลึกฐานขณะทำการปลูกผลึกอยู่ในช่วง 470-490องศาเซลเซียส ค่าอัตราส่วน BEP ของ As[subscript 4]/In อยู่ในช่วง 26-30 และอัตราการปลูกผลึกอยู่ในช่วง 0.35-0.45 ML/วินาทีen
dc.description.abstractalternativeThe growth of InAs epi-layers on (100) GaAs substrates by solid-source molecular beam epitaxy (MBE) was investigated. The undoped InAs epi-layers showed n-type conduction behavior with a background carrier concentration of 2.2x10[superscript 16]-8x10[superscript 16] cm[superscript -3], carrier mobility of 5,400-6,800 cm[superscript 2] V-s and magnetic sensitivity of 0.8-1.4x10[superscript -5] Volt/Gauss. These results showed a strong dependence on growth conditions such as growth temperatures, As[subscript 4]/In BEP ratios and growth rates, The optimum growth condition for smooth morphology, high carrier mobility and magnetic sensitivity InAs epi-layer on GaAs subrate was the growth temperature in the range of 470-490 degree Celsius, As[subscript 4]/In BEP ratio in the range of 26-30 and growth rate in the rage of 0.35-0.45 ML/sec.en
dc.description.sponsorshipทุนวิจัยงบประมาณแผ่นดิน ปี 2547en
dc.format.extent6500230 bytes-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.language.isothes
dc.publisherจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัยen
dc.relation.ispartofseriesโครงการวิจัยเลขที่ 65G-EE-2547-
dc.rightsจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัยen
dc.subjectการปลูกผลึกอิพิแทกซีจากลำโมเลกุล-
dc.subjectสารกึ่งตัวนำ-
dc.titleการปลูกผลึก InAs บนแผ่นผลึกฐานเริ่มต้น GaAs ด้วยวิธีการปลูกผลึกอิพิแทกซีจากลำโมเลกุลen
dc.typeTechnical Reportes
dc.email.authorSomchai.R@chula.ac.th-
dc.email.authorChoompol.A@chula.ac.th-
Appears in Collections:Eng - Research Reports

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Somchai_InAs.pdf6.35 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.