การออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805x โดยใช้สถาปัตยกรรมบาวน์ดารีสแกน

วิชชา เฟื่องจันทร์

Please use this identifier to cite or link to this item: https://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/11179

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.advisor	อาทิตย์ ทองทักษ์	-
dc.contributor.author	วิชชา เฟื่องจันทร์	-
dc.contributor.other	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์	-
dc.date.accessioned	2009-09-21T01:52:47Z	-
dc.date.available	2009-09-21T01:52:47Z	-
dc.date.issued	2544	-
dc.identifier.isbn	9740314007	-
dc.identifier.uri	http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/11179	-
dc.description	วิทยานิพนธ์ (วท.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2544	en
dc.description.abstract	วิทยานิพนธ์นี้เสนอการออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบ แกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805X โดยใช้สถาปัตยกรรม บาวน์ดารี สแกน โดยใช้ภาษาวีเอชดีแอล (VHDL) ซึ่งเป็นภาษาอธิบายฮาร์ดแวร์ (HDL : Hardware Description Languages) โดยออกแบบวงจรในระดับพฤติกรรม (behavioral level) และในระดับโครงสร้าง (Structural level) เพื่อทดสอบการเชื่อมต่อ และทดสอบฟังก์ชันการทำงาน ของแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ โดยออกแบบส่วนจำเพาะ สำหรับการทดสอบและสร้างข้อมูลทดสอบ (test data) เพื่อใช้ทดสอบหาความผิดพร่อง (fault) ที่จะเกิดขึ้น โดยกระบวนการทดสอบที่ออกแบบมาเพื่อใช้ทดสอบ จะขึ้นอยู่กับความเหมาะสมและเป้าหมายในการทดสอบ โดยทดสอบด้วยวิธีการจำลองการทำงาน (Simulation) และวิเคราะห์ผลด้วยโปรแกรมที่พัฒนาขึ้นโดยเฉพาะ	en
dc.description.abstractalternative	This thesis presents the design of test module for MEL 805X microcontroller using boundary scan architecture. This test module used VHDL as hardware description language. The Circuit was designed in both behavioral level and structural level to test the interconnection and function of microcontroller core. The test module and test data were designed to detect possible fault by applying test data. The test method will up to the appropriateness and the target of the test. It uses simulation method to conduct the test and the result will be analyzed by specific purpose developoed program.	en
dc.format.extent	1036445 bytes	-
dc.format.mimetype	application/pdf	-
dc.language.iso	th	es
dc.publisher	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย	en
dc.rights	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย	en
dc.subject	ไมโครคอนโทรลเลอร์	en
dc.subject	วีเอชดีแอล (ภาษาคอมพิวเตอร์)	en
dc.subject	การออกแบบวงจรอิเล็กทรอนิกส์	en
dc.title	การออกแบบส่วนจำเพาะสำหรับการทดสอบแกนไมโครคอนโทรลเลอร์ MEL 805x โดยใช้สถาปัตยกรรมบาวน์ดารีสแกน	en
dc.title.alternative	Design of test module for MEL 805X microcontroller using boundary scan architecture	en
dc.type	Thesis	es
dc.degree.name	วิทยาศาสตรมหาบัณฑิต	es
dc.degree.level	ปริญญาโท	es
dc.degree.discipline	วิทยาศาสตร์คอมพิวเตอร์	es
dc.degree.grantor	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย	en
dc.email.advisor	arthit@cp.eng.chula.ac.th,Arthit.T@Chula.ac.th	-
Appears in Collections:	Eng - Theses

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
Witcha.pdf		1.01 MB	Adobe PDF	View/Open

Show simple item record