Please use this identifier to cite or link to this item:
https://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/3428
Title: | การพัฒนาแผ่นฟิล์มพอลิไวนิลิดีนฟลูออไรด์เพื่อเป็นแทรนส์ดิวเซอร์ |
Other Titles: | Development of polyvinylidene fluoride film for transducers |
Authors: | ชัชชัย พุทซ้อน, 2521- |
Advisors: | กิรณันต์ รัตนธรรมพันธ์ ชนะ ผิวผ่อง |
Other author: | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิทยาศาสตร์ |
Subjects: | วัสดุเซรามิก เฟียโซอิเล็กทริกแทรนส์ดิวเซอร์ โพลิไวนิลิดีนฟลูออไรด์ |
Issue Date: | 2547 |
Publisher: | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย |
Abstract: | ในการเตรียมแผ่นฟิล์มพอลิไวนิลิดีนฟลูออไรด์ (PVDF) ใช้ผง PVDF 10% โดยน้ำหนัก ละลายในเอน-เมทิลทูไพโรลิโดน นำสารละลายเทใส่ถาดที่จัดระดับแล้วอบที่ 120 องศาเซลเซียส นำฟิล์มที่ได้ตรวจสอบโครงสร้างด้วย XRD เพื่อหาโครงสร้างที่ได้จากการเตรียม ต่อมานำไปยืดให้ยาวขึ้น 3.5 ถึง 4 เท่า ความยาวเดิม นำไปตรวจสอบโครงสร้างด้วย XRD อีกครั้ง ได้ค่ามุม Bragg ของระนาบ (110) และ (200) เท่ากับ 20.46 องศา ซึ่งใกล้เคียงกับงานของ Das Gupta and Doughty ที่ 20.80 องศา นำฟิล์มไปทำขั้วด้วยการระเหยทอง นำไปจัดขั้วไฟฟ้าด้วยสนามไฟฟ้าตั้งแต่ 40 ถึง 80 MV/m วัดค่าไดอิเล็กทริกของฟิล์มด้วย LCR meter ได้ค่าไดอิเล็กทริก 10.55 ถึง 8.25 ปรากฏการณ์ไพอิโซอิเล็กทริกวัดด้วยอินเทอร์เฟอร์โรมิเตอร์ ค่าสัมประสิทธิ์ไพอิโซอิเล็กทริก d[subscript 33] ที่วัดได้อยู่ในช่วง 2.5 ถึง 4.4 pm/V เปลี่ยนแปลงตามค่าสนามจัดขั้ว |
Other Abstract: | The polyvinylidene fluoride films (PVDF) were prepared by adding 10% of PVDF powder (by weight) into N-methyl-2-pyrrolidone as solvent. The PVDF solution was poured into the glass tray with fine leveling, then heated at 120 degree celcius until a dry film was obtained. The crystal structure of the film was examined by the XRD method to find out its crystal structure. Then the film was stretched to a length of 3.5 to 4 times of its original length. The crystal structure of the stretched film was reexamined by the XRD method. The XRD pattern indicates that the Bragg angles of planes (110) and (200) are 20.48 degree which is close to the value of 20.80 degree obtained by Das Gupta and Doughty work. Gold was sputtered onto the film as electrodes, and the poling fields of 40 to 80 MV/m were used. The dielectric constant of the film was measured by LCR meter. The dielectric constant values of 10.55 to 8.23 were obtained. The piezoelectric effect was measured using the interferometer. The values of piezoelectric coefficient d[subscript 33] found to be in the range between 2.5 to 4.4 pm/V depending on the poling field. |
Description: | วิทยานิพนธ์ (วท.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2547 |
Degree Name: | วิทยาศาสตรมหาบัณฑิต |
Degree Level: | ปริญญาโท |
Degree Discipline: | ฟิสิกส์ |
URI: | http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/3428 |
ISBN: | 9741760698 |
Type: | Thesis |
Appears in Collections: | Sci - Theses |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Chatchai_Put.pdf | 1.8 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.