Please use this identifier to cite or link to this item: https://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/41211
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.advisorสุทิน เวทย์วัฒนะ-
dc.contributor.authorอัจฉริยะ โสโน-
dc.contributor.otherจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. บัณฑิตวิทยาลัย-
dc.date.accessioned2014-03-18T14:27:18Z-
dc.date.available2014-03-18T14:27:18Z-
dc.date.issued2522-
dc.identifier.urihttp://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/41211-
dc.descriptionวิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2522en_US
dc.language.isothen_US
dc.publisherจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัยen_US
dc.rightsจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัยen_US
dc.titleการวัความหนาของชั้นอ๊อกไซด์บนแว่นผลึกซิลิกอนen_US
dc.title.alternativeThickness measurement of oxide layer on silicon substrateen_US
dc.typeThesisen_US
dc.degree.nameวิศวกรรมศาสตรมหาบัณฑิตen_US
dc.degree.levelปริญญาโทen_US
dc.degree.disciplineวิศวกรรมไฟฟ้าen_US
dc.degree.grantorจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัยen_US
Appears in Collections:Grad - Theses

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Achriya_so_front.pdf1.46 MBAdobe PDFView/Open
Achriya_so_ch0.pdf766.9 kBAdobe PDFView/Open
Achriya_so_ch1.pdf1.88 MBAdobe PDFView/Open
Achriya_so_ch2.pdf1.38 MBAdobe PDFView/Open
Achriya_so_ch3.pdf1.61 MBAdobe PDFView/Open
Achriya_so_ch4.pdf2.13 MBAdobe PDFView/Open
Achriya_so_back.pdf2.84 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.