Please use this identifier to cite or link to this item:
https://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/41211
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.advisor | สุทิน เวทย์วัฒนะ | - |
dc.contributor.author | อัจฉริยะ โสโน | - |
dc.contributor.other | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. บัณฑิตวิทยาลัย | - |
dc.date.accessioned | 2014-03-18T14:27:18Z | - |
dc.date.available | 2014-03-18T14:27:18Z | - |
dc.date.issued | 2522 | - |
dc.identifier.uri | http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/41211 | - |
dc.description | วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2522 | en_US |
dc.language.iso | th | en_US |
dc.publisher | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย | en_US |
dc.rights | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย | en_US |
dc.title | การวัความหนาของชั้นอ๊อกไซด์บนแว่นผลึกซิลิกอน | en_US |
dc.title.alternative | Thickness measurement of oxide layer on silicon substrate | en_US |
dc.type | Thesis | en_US |
dc.degree.name | วิศวกรรมศาสตรมหาบัณฑิต | en_US |
dc.degree.level | ปริญญาโท | en_US |
dc.degree.discipline | วิศวกรรมไฟฟ้า | en_US |
dc.degree.grantor | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย | en_US |
Appears in Collections: | Grad - Theses |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Achriya_so_front.pdf | 1.46 MB | Adobe PDF | View/Open | |
Achriya_so_ch0.pdf | 766.9 kB | Adobe PDF | View/Open | |
Achriya_so_ch1.pdf | 1.88 MB | Adobe PDF | View/Open | |
Achriya_so_ch2.pdf | 1.38 MB | Adobe PDF | View/Open | |
Achriya_so_ch3.pdf | 1.61 MB | Adobe PDF | View/Open | |
Achriya_so_ch4.pdf | 2.13 MB | Adobe PDF | View/Open | |
Achriya_so_back.pdf | 2.84 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.