Please use this identifier to cite or link to this item: http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/46746
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.advisorSupason Wanichwecharungruang-
dc.contributor.advisorTassimon Kongyou-
dc.contributor.authorNarumon Pattayagorn-
dc.contributor.otherChulalongkorn University. Faculty of Science-
dc.date.accessioned2015-09-24T09:11:58Z-
dc.date.available2015-09-24T09:11:58Z-
dc.date.issued2006-
dc.identifier.urihttp://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/46746-
dc.descriptionThesis (M.Sc.)--Chulalongkorn University, 2006en_US
dc.description.abstractSurface contamination (i.e., dust and thin film) was characterized by the novel slide-on diamond, uIRE, and slide-on Ge uIRE. Due to the small sampling area of the tip, a sample with small size can be analyzed. In this work, characterizations of polymer surface contamination by the slide-on diamond uIRE and the slide-on Ge uIRE were studied. The contaminants on the surface of sample were analyzed. Contamination on a surface can be deposited onto the tip of both uIREs by directly deposition, or by using an organic liquid (i.e., mineral oil or fluorolube) to pick-up the contaminants from the surface. This novel sampling technique was called the "contact and collect" technique. This technique is non-destructive, ease to operate, does not require an additional sample preparation, and the result is accurate and reliable. The trace contaminants on a surface can be separated from the substrate, and characterized under the ATR mode without any interference from the substrate. The observed phenomenon suggested that the "contact-and-collect" operation with the slide-on diamond and slide-on Ge uIRE have the great potential for surface contamination, and forensic analysis.en_US
dc.description.abstractalternativeการปนเปื้อนเชิงผิว เช่น ฝุ่นหรือฟิล์มบางๆ ถูกศึกษาโดยอุปกรณ์ไมโครไออาร์อีแบบสไลด์ที่มีเพชรที่ผ่านการเจียระไนแล้วและเจอร์มาเนียมซึ่งมีลักษณะทรงกรวยเป็นหัวตรวจวัดเนื่องจากอุปกรณ์ที่ใช้ในการตรวจวัดทั้งสองมีพื้นที่ผิวสัมผัสขนาดเล็ก จึงสามารถวิเคราะห์ตัวอย่างที่มีขนาดเล็กได้ เอทีอาร์สเปกตรัมที่ได้ให้ข้อมูลเชิงผิวของสิ่งปนเปื้อน ซึ่งสิ่งปนเปื้อนสามารถหลุดติดที่ปลายของหัวตรวจวัดได้โดยการสัมผัสโดยตรงหรือใช้ของเหลวที่มีความเหนียวเพื่อช่วยในการดึงสิ่งปนเปื้อนออกจากตัวอย่าง เทคนิคที่พัฒนาขึ้นใหม่นี้เรียกว่าเทคนิคคอนแทคและคลอเล็ค โดยเทคนิคนี้ไม่ทำลายตัวอย่าง ทำได้ง่าย ไม่ต้องมีการเตรียมตัวอย่าง และผลการทดลองถูกต้องและเชื่อถือได้ โดยสามารถแยกสิ่งปนเปื้อนออกจากพื้นผิวรองรับ และทำการศึกษาภายใต้หลักการทำงานของเอทีอาร์ ทำให้ไม่มีอิทธิพลของพื้นผิวรองรับ ปรากฎการณ์ที่ได้รับจากเทคนิคคอนแทคและคลอเล็ดร่วมกับอุปกรณ์ ไดมอนด์และเจอร์เมเนียมไมโครไออาร์อีแบบสไลด์ มีประสิทธิภาพสำหรับการศึกษาการปนเปื้อนเชิงผิวและการศึกษาทางด้านนิติวิทยาศาสตร์en_US
dc.language.isoenen_US
dc.publisherChulalongkorn Universityen_US
dc.rightsChulalongkorn Universityen_US
dc.subjectSpectrum analysisen_US
dc.subjectSurface contaminationen_US
dc.subjectInfrared spectroscopyen_US
dc.subjectโพลิเมอร์en_US
dc.titleContamination analysis of polymer surface by ART FT-IR microspectroscopyen_US
dc.title.alternativeการตรวจสอบการปนเปื้อนเชิงผิวของพอลิเมอร์ด้วยเอทีอาร์เอฟทีไออาร์ไมโครสเปกโทรสโกปีen_US
dc.typeThesisen_US
dc.degree.nameMaster of Scienceen_US
dc.degree.levelMaster's Degreeen_US
dc.degree.disciplinePetrochemistry and Polymer Scienceen_US
dc.degree.grantorChulalongkorn Universityen_US
dc.email.advisorpsupason@chula.ac.th-
dc.email.advisorNo information provided-
Appears in Collections:Sci - Theses

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Narumon_Pa.pdf8.61 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.