Please use this identifier to cite or link to this item:
https://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/11767
| Title: | การเพิ่มจุดทดสอบสำหรับการทดสอบวงจรอสมวารแบบควอไซดีเลย์อินเซนซิทีฟ |
| Other Titles: | Test point insertion for testing quasi-delay-insensitive asynchronous circuits |
| Authors: | วุฒิชัย เลิศศิริสัมพันธ์ |
| Advisors: | อาทิตย์ ทองทักษ์ |
| Other author: | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์ |
| Advisor's Email: | arthit@cp.eng.chula.ac.th, Arthit.T@Chula.ac.th |
| Subjects: | วงจรอสมวาร ดิจิตอลอิเล็กทรอนิกส์ |
| Issue Date: | 2543 |
| Publisher: | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย |
| Abstract: | การทดสอบวงจรเป็นกระบวนการที่ใช้สำหรับตรวจสอบการทำงานของวงจรเมื่อมีข้อผิด พร่องเกิดขึ้นในวงจร วิทยานิพนธ์ฉบับนี้นำเสนอการออกแบบขั้นตอนวิธีการเติมจุดทดสอบในวงจรอสมวาร แบบควอไซดีเลย์อินเซนซิทีฟที่มีโมเดลข้อผิดพร่องแบบ Stuck-at Fault ซึ่งขั้นตอนการเติมจุดทดสอบเป็นส่วนหนึ่งของการทดสอบวงจรอสมวาร โดยจะใช้วิธีการเติมจุดทดสอบลงในวงจรซึ่งแบ่งเป็นจุดควบคุม (Control Point) และจุดสังเกต (Observe Point) เพื่อให้วงจรสามารถทดสอบได้ ในขั้นตอนวิธีการทดสอบวงจรอสมวารจะใช้การจำลองพฤติกรรมโดยใช้แผนภาพคล้ายซิก แนลทรานสิชันกราฟและประยุกต์ SSG ช่วยในการลดความซับซ้อนในการแสดงพฤติกรรมของวงจร และปรับปรุงค่า Fault Coverage ของวงจรให้มากขึ้นโดยใช้ SSG และ ESSG เพื่อให้วงจรเติมจุดทดสอบน้อยลง จากผลการทดลองแสดงให้เห็นว่าการเติมจุดทดสอบในวงจรที่เกิดข้อผิดพร่องสามารถ ทำให้วงจรสามารถทดสอบได้ทุกกรณี |
| Other Abstract: | Testing is process to detect the fault. This thesis proposes a design of the test point insertion for testing quasi-delay insensitive (QDI) asynchronous circuits that use stuck-at fault model. Test point insertion is one process in testing process by using control point and observe point for increasing fault coverage of the circuit. In asynchronous circuits testing process, we use stg-like diagram for showing circuit behavior and apply stable state graph (SSG) for decreasing complex of circuit behavior. We use stable state graph and extend stable state graph (ESSG) for increasing fault coverage of the circuits. Experiments on the benchmark circuits show that test point insertion can detect all permanent stuck-at faults. |
| Description: | วิทยานิพนธ์ (วท.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2543 |
| Degree Name: | วิทยาศาสตรมหาบัณฑิต |
| Degree Level: | ปริญญาโท |
| Degree Discipline: | วิทยาศาสตร์คอมพิวเตอร์ |
| URI: | http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/11767 |
| ISBN: | 9743470735 |
| Type: | Thesis |
| Appears in Collections: | Eng - Theses |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Wuthichai.pdf | 1.54 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.