การเพิ่มจุดทดสอบสำหรับการทดสอบวงจรอสมวารแบบควอไซดีเลย์อินเซนซิทีฟ

วุฒิชัย เลิศศิริสัมพันธ์

Please use this identifier to cite or link to this item: https://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/11767

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.advisor	อาทิตย์ ทองทักษ์	-
dc.contributor.author	วุฒิชัย เลิศศิริสัมพันธ์	-
dc.contributor.other	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์	-
dc.date.accessioned	2009-12-08T07:08:21Z	-
dc.date.available	2009-12-08T07:08:21Z	-
dc.date.issued	2543	-
dc.identifier.isbn	9743470735	-
dc.identifier.uri	http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/11767	-
dc.description	วิทยานิพนธ์ (วท.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2543	en
dc.description.abstract	การทดสอบวงจรเป็นกระบวนการที่ใช้สำหรับตรวจสอบการทำงานของวงจรเมื่อมีข้อผิด พร่องเกิดขึ้นในวงจร วิทยานิพนธ์ฉบับนี้นำเสนอการออกแบบขั้นตอนวิธีการเติมจุดทดสอบในวงจรอสมวาร แบบควอไซดีเลย์อินเซนซิทีฟที่มีโมเดลข้อผิดพร่องแบบ Stuck-at Fault ซึ่งขั้นตอนการเติมจุดทดสอบเป็นส่วนหนึ่งของการทดสอบวงจรอสมวาร โดยจะใช้วิธีการเติมจุดทดสอบลงในวงจรซึ่งแบ่งเป็นจุดควบคุม (Control Point) และจุดสังเกต (Observe Point) เพื่อให้วงจรสามารถทดสอบได้ ในขั้นตอนวิธีการทดสอบวงจรอสมวารจะใช้การจำลองพฤติกรรมโดยใช้แผนภาพคล้ายซิก แนลทรานสิชันกราฟและประยุกต์ SSG ช่วยในการลดความซับซ้อนในการแสดงพฤติกรรมของวงจร และปรับปรุงค่า Fault Coverage ของวงจรให้มากขึ้นโดยใช้ SSG และ ESSG เพื่อให้วงจรเติมจุดทดสอบน้อยลง จากผลการทดลองแสดงให้เห็นว่าการเติมจุดทดสอบในวงจรที่เกิดข้อผิดพร่องสามารถ ทำให้วงจรสามารถทดสอบได้ทุกกรณี	en
dc.description.abstractalternative	Testing is process to detect the fault. This thesis proposes a design of the test point insertion for testing quasi-delay insensitive (QDI) asynchronous circuits that use stuck-at fault model. Test point insertion is one process in testing process by using control point and observe point for increasing fault coverage of the circuit. In asynchronous circuits testing process, we use stg-like diagram for showing circuit behavior and apply stable state graph (SSG) for decreasing complex of circuit behavior. We use stable state graph and extend stable state graph (ESSG) for increasing fault coverage of the circuits. Experiments on the benchmark circuits show that test point insertion can detect all permanent stuck-at faults.	en
dc.format.extent	1576583 bytes	-
dc.format.mimetype	application/pdf	-
dc.language.iso	th	es
dc.publisher	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย	en
dc.rights	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย	en
dc.subject	วงจรอสมวาร	en
dc.subject	ดิจิตอลอิเล็กทรอนิกส์	en
dc.title	การเพิ่มจุดทดสอบสำหรับการทดสอบวงจรอสมวารแบบควอไซดีเลย์อินเซนซิทีฟ	en
dc.title.alternative	Test point insertion for testing quasi-delay-insensitive asynchronous circuits	en
dc.type	Thesis	es
dc.degree.name	วิทยาศาสตรมหาบัณฑิต	es
dc.degree.level	ปริญญาโท	es
dc.degree.discipline	วิทยาศาสตร์คอมพิวเตอร์	es
dc.degree.grantor	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย	en
dc.email.advisor	arthit@cp.eng.chula.ac.th, Arthit.T@Chula.ac.th	-
Appears in Collections:	Eng - Theses

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
Wuthichai.pdf		1.54 MB	Adobe PDF	View/Open

Show simple item record