การศึกษาผลของการออกแบบที่แตกต่างกันต่อความเค้นของอุปกรณ์ในบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์

ไพบูลย์ สุขเถื่อน, 2517-

Please use this identifier to cite or link to this item: https://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/1597

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.advisor	ยุทธนา กุลวิทิต	-
dc.contributor.author	ไพบูลย์ สุขเถื่อน, 2517-	-
dc.contributor.other	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์	-
dc.date.accessioned	2006-08-09T07:19:33Z	-
dc.date.available	2006-08-09T07:19:33Z	-
dc.date.issued	2547	-
dc.identifier.isbn	9745311782	-
dc.identifier.uri	http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/1597	-
dc.description	วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2547	en
dc.description.abstract	วิทยานิพนธ์นี้นำเสนอการศึกษาผลของการออกแบบที่แตกต่างกันต่อความเค้นของอุปกรณ์ในบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์ เนื่องจากอุปกรณ์บางตัวในระบบที่ประกอบด้วยบัลลาสต์และหลอดมีลักษณะสมบัติไม่เป็นเชิงเส้นทำให้การคำนวณมีความยุ่งยาก เพื่อให้ง่ายต่อการวิเคราะห์วงจรจึงวิเคราะห์วงจรโดยการประมาณด้วยความถี่หลักมูลและใช้แบบจำลองของหลอดเป็นแบบเชิงเส้น ได้มีการศึกษาความเค้นของอุปกรณ์ 3 แบบ ได้แก่ความเค้นระหว่างการจุดหลอด ความเค้นที่เกิดจากการเปลี่ยนแปลงแรงดันด้านเข้าและค่าความต้านทานหลอดและความเค้นจากการขับนำสวิตช์ผิดจังหวะ ได้มีการศึกษาการทำงานของบัลลาสต์ที่ออกแบบและทำงานในเงื่อนไขที่แตกต่างกันเพื่อค้นหาสาเหตุของการเกิดความเค้นกับอุปกรณ์ รวมทั้งนำเสนอแนวทางลดความเค้นแต่ละแบบโดยการออกแบบที่เหมาะสม โดยได้มีการตรวจสอบแนวทางที่นำเสนอโดยการทดลอง	en
dc.description.abstractalternative	This thesis presents the investigations of the effect of differently designed parameters on component stress in electronic ballasts. Because certain circuit's components in the lamp ballast system are nonlinear, exact circuit analysis and design could hardly be done. Fundamental frequency approximation technique and linear lamp model were used to simplify the analysis. Three main categories of device stress were studied: stress occurs during lamp ignition, stress stimulated by the input voltage variation and lamp equivalent resistance change, and stress caused by untimely gating signal. Operations characteristics of differently designed ballasts under different environmental conditions were scrutinized to identify the origin of component stresses. Stress reduction techniques, through proper circuit design, for each type of stress were proposed and verified experimentally.	en
dc.format.extent	8873154 bytes	-
dc.format.mimetype	application/pdf	-
dc.language.iso	th	en
dc.publisher	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย	en
dc.rights	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย	en
dc.subject	บัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์	en
dc.subject	ความเครียดและความเค้น	en
dc.title	การศึกษาผลของการออกแบบที่แตกต่างกันต่อความเค้นของอุปกรณ์ในบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์	en
dc.title.alternative	Investigation of the effect of differently designed paramerters on component stress in electronic ballasts	en
dc.type	Thesis	en
dc.degree.name	วิศวกรรมศาสตรมหาบัณฑิต	en
dc.degree.level	ปริญญาโท	en
dc.degree.discipline	วิศวกรรมไฟฟ้า	en
dc.degree.grantor	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย	en
dc.email.advisor	Youthana.K@chula.ac.th	-
Appears in Collections:	Eng - Theses

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
Paiboon.pdf		9.04 MB	Adobe PDF	View/Open

Show simple item record