Please use this identifier to cite or link to this item: https://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/22041
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.advisorณัฐชา ทวีแสงสกุลไทย-
dc.contributor.authorปิติวัฒน์ อุดมลักษณ์-
dc.contributor.otherจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์-
dc.date.accessioned2012-09-09T09:41:22Z-
dc.date.available2012-09-09T09:41:22Z-
dc.date.issued2554-
dc.identifier.urihttp://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/22041-
dc.descriptionวิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2554en
dc.description.abstractในงานวิจัยมีวัตถุประสงค์เพื่อลดจำนวนของเสียที่มีฝุ่นปนเปื้อนบนกระจกวัตถุดิบที่เป็นปัญหาหลักในกระบวนการผลิตกระจกวัตถุดิบในอุตสาหกรรมชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ โดยดำเนินการตามแนวทางของวงจรเดมมิ่ง นำมาประยุกต์ใช้เพื่อแก้ปัญหาที่เกิดขึ้น โดยในขั้นตอนการวางแผน ทำการศึกษาข้อมูลของปัญหา เพื่อกำหนดวัตถุประสงค์และขอบเขตของงานวิจัย โดยกราฟพาเรโตบ่งชี้ว่าของเสียที่มีฝุ่นปนเปื้อนกระจกวัตถุดิบเป็นของเสียหลัก ซึ่งมีสัดส่วนที่มากกว่าร้อยละ 90 ของของเสียทั้งหมด หรือร้อยละ 20 ของอัตราผลผลิตกระจกวัตถุดิบทั้งหมด เมื่อนำมาฝุ่นตัวอย่างจากของเสียมาวิเคราะห์ด้วยเครื่อง scanning electron microscope and energy-dispersive X-ray spectroscopy สามารถระบุว่าฝุ่นจากของเสียนั้นทั้งหมดเป็นเศษกระจกที่แตกออกมาปนเปื้อน ซึ่งหมายถึงการทำงานของระบบทำความสะอาดฝุ่นในเครื่องจักรไม่สามารถกำจัดฝุ่นได้ทั้งหมด วัดความสามารถของกระบวนการของระบบในการตรวจจับตำแหน่งของฝุ่นในเครื่องจักร สามารถยืนยันว่าเครื่องตรวจจับมีความถูกต้องและแม่นยำตามข้อกำหนด ใช้แผนผังก้างปลามาวิเคราะห์หาปัจจัยที่มีโอกาสเกิดปัญหาในเครื่องตัดและเครื่องแยกชิ้นและตรวจสอบกระจกวัตถุดิบ โดยปัจจัยที่มีผลกระทบต่อของเสียที่มีฝุ่นปนเปื้อนมาจากปัจจัยที่ทำงานโดยตรงกับกระจกวัตถุดิบ ด้วยการออกแบบการทดลองแบบ 2-level full factorial design ซึ่งพบปัจจัยที่มีผลกระทบมากกับของเสียที่มีฝุ่นปนเปื้อนกระจกวัตถุดิบ ในเครื่องตัด 3 ปัจจัย ในเครื่องแยกชิ้นกระจกวัตถุดิบ 2 ปัจจัย และระบบทำความสะอาดและกำจัดฝุ่น 4 ปัจจัย ทำการติดตั้งค่าพารามิเตอร์ที่ใช้งานที่ได้หลังการทดลองกับเครื่องตัดและเครื่องแยกชิ้นและตรวจสอบกระจกวัตถุดิบ ซึ่งทำให้อัตราของของเสียที่มีฝุ่นปนเปื้อนกระจกวัตถุดิบลดลงเหลือ 10.95% ของอัตราผลผลิต หรือลดลงประมาณ 51.75% ของอัตราของของเสียที่มีฝุ่นปนเปื้อนก่อนทำการปรับปรุงen
dc.description.abstractalternativeThis paper focuses on reducing dust contamination defectives, which is a major problem of glass material production process in electronic device industry. Deming cycle approach of PDCA process step was applied to solve the problem. At plan phase, the problem statement, objective and scope were set. Pareto chart identified that dust contamination defects are the major defect of glass material by over 90% or contribute to 20% of glass material production yield. Analysis from scanning electron microscope and energy-dispersive X-ray spectroscopy machine (SEM & EDX) reveals that the dust occurred from the cracked edge of glass material. Next do and check phase, the attribute agreement analysis was performed to confirm the precision and accuracy of the measuring system of dust position. A cause-and-effect diagram showed possible causes of the problem which came from Dicer machine and Glass pick up and detect dust machine. The factors that affect to dust contamination are device which touched the glass material directly. Evaluated by design of experiment (DOE) with 2-level full factorial design found three factors on dicer machine, two factors of glass pick up machine and four factors of cleaning air blow detect dust machine are highly affect to dust contamination defectives. By setting the machine according to the above parameters, the average of dust contamination defectives can be reduced to 10.95% of glass material production yield or approximately 51.75% of the previous dust contaminated defectives.en
dc.format.extent4703644 bytes-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.language.isothes
dc.publisherจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัยen
dc.relation.urihttp://doi.org/10.14457/CU.the.2011.661-
dc.rightsจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัยen
dc.subjectอุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์en
dc.subjectของเสียen
dc.subjectฝุ่นen
dc.titleการลดของเสียที่มีฝุ่นปนเปื้อนในกระบวนการผลิตกระจกวัตถุดิบในอุตสาหกรรมชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์en
dc.title.alternativeDust contamination defective reduction in glass material production process in electronic device industryen
dc.typeThesises
dc.degree.nameวิศวกรรมศาสตรมหาบัณฑิตes
dc.degree.levelปริญญาโทes
dc.degree.disciplineวิศวกรรมอุตสาหการes
dc.degree.grantorจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัยen
dc.email.advisornatcha.t@chula.ac.th-
dc.identifier.DOI10.14457/CU.the.2011.661-
Appears in Collections:Eng - Theses

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
pitiwat_ud.pdf4.59 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.