Please use this identifier to cite or link to this item:
https://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/27277
Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.advisor | จิรชัย สีจร | |
| dc.contributor.advisor | ชาตรี ศรีไพพรรณ | |
| dc.contributor.author | สุนทร วาศนา | |
| dc.contributor.other | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. บัณทิตวิทยาลัย | |
| dc.date.accessioned | 2012-11-30T09:51:24Z | |
| dc.date.available | 2012-11-30T09:51:24Z | |
| dc.date.issued | 2527 | |
| dc.identifier.isbn | 9745632287 | |
| dc.identifier.uri | http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/27277 | |
| dc.description | วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2527 | en |
| dc.description.abstract | วิทยานิพนธ์นี้เป็นการออกแบบและสร้างเครื่องมือทดสอบวงจรประมวลเชิงเลขโดยใช้ไมโครโปรเซสเซอร์ เป็นตัวควบคุมการทำงาน เครื่องทดสอบนี้สามารถทดสอบวงจรประมวลในตระกูล ทีทีแอล และซีมอสโดยการทดสอบฟังค์ชั่นทางตรรก วงจรประมวลที่สามารถทดสอบได้เป็น ประเภท ๑๔ ขา ๑๖ ขา และ ๒๔ ขา ที่มีหมายเลขวงจรประมวลที่ขึ้นต้นด้วย 54/74xxx สำหรับทีทีแอล และ 54/74Cxxxสำหรับซีมอส การทดสอบสามารถทดสอบได้ทั้งแบบเร็วและแบบช้าการทดสอบแบบเร็วจะใช้ทดสอบในกรณีที่มีวงจรประมวลเชิงเลขจำนวนมากๆ เพื่อประหยัดเวลาในการทดสอบ ส่วนการทดสอบแบบช้าใช้เมื่อต้องการพิจารณา ตรวจดูวงจรประมวลที่เสีย ว่าเสียตามภาวะทางตรรกอันใด และสามารถใช้ตรวจว่าวงจรรับสัญญาณตรรกด้านเข้าทำงานถูกต้องหรือไม่ วงจรประมวลเชิงเลขไม่มีหมายเลขในโปรแกรมภายในเครื่องสามารถทดสอบได้โดยให้ผู้ใช้ใส่ข้อมูลให้กับเครื่องทางแป้นกดข้อมูล หลังจากนั้น เครื่องจะทดสอบตามข้อมูลที่เราป้อนเข้าไป วิธีการใช้งานของเครื่องทดสอบวงจรประมวลเชิงเลขนี้ใช้ง่ายเพียงแต่กดหมายเลขวงจรประมวลเท่านั้น แล้วเสียบวงจรประมวลเชิงเลขลงบนที่เสียบขา กดปุ่มคำว่า ทดสอบ ก็จะได้ผลการทดสอบออกมาอย่างรวดเร็ว โดยมีการบอกส่วนที่เสียด้วย นอกจากนี้ ที่เครื่องยังมีตัวดักจับตรรก ต่างๆ โดยใช้ไดโอตเปล่งแสงเป็นตัวแสดงตรรก เพื่อให้ผู้ใช้รู้ว่าตรรก ที่ขาของวงจรประมวลขณะที่ ทดสอบเป็นอย่างไรซึ่งสามารถนำมาใช้เพื่อการตรวจสอบความพร้อมของเครื่องทดสอบว่าสามารถส่งสัญญาณต่างๆ เข้าขาวงจรประมวลตามตารางจริงหรือไม่ เครื่องทดสอบนี้ยังสามารถบอกผู้ใช้ว่า วงจรประมวลที่นำมาทดสอบเป็นชนิดใด และมีการมัดวงจรภายในหรือไม่ ในการทดสอบเครื่องนี้ ได้ทำการทดสอบวงจรประมวลเชิงเลขจำนวนมากกว่า ๓๐๐๐ ตัว ได้ผลถูกต้องตามความเป็นจริงทุกตัว ดังนั้นจึงสามารถสรุปได้ว่าเครื่องทดสอบที่สร้างขึ้นนี้สามารถตรวจสอบวงจรประมวลเชิงเลขทางฟังค์ชั่นตรรก อย่างมีความเชื่อถือได้สูง | |
| dc.description.abstractalternative | This thesis concerns the design and construction of a microprocessor controlled digital IC tester. This tester can test the logic function of intergrated circuits (IC) of TTL and CMOS families. The IC’s that can be tested are the 54/74xxx series of TTL and the 74/54Cxxx series of CMOS in the dual – in – line packages of 14 pins, 16, pins and 24 pins. There are 2 kinds of test : the fast test and the slow test. The fast test is designed to test a large quantity of IC’s to save time. The slow test enables us to identify the input logic condition that the IC fails. We can also use it to check the input logic condition. In case where the program resident in the unit does not contain the IC to be tested, new data can be fed into the unit via the keyboard to enable the unit to test the IC according to the fed data. To operate the unit, one simply types the number of the IC onto the keyboard, inserts the IC in the test socket and press the test button. The result will be obtained immediately with the faulty part identified. Further more, the unit has a logic monitor using LED’s to display the logic condition at various pins of the IC. This may also be used to test the correctness of the tester in sending input signal according to the truth table to IC pins under test. The unit can also show the type of IC’s to be tested and determine whether the the IC is internally short circuited. The tester had been used to test more than 3,000 IC’s using both the fast test and the slow test the results were the same as those obtained by using a digital test board. Therefore, it is concluded that the tester developed and built can be used to test the logic function of digital IC’S with high reliability. | |
| dc.format.extent | 539266 bytes | |
| dc.format.extent | 592829 bytes | |
| dc.format.extent | 437295 bytes | |
| dc.format.extent | 2310027 bytes | |
| dc.format.extent | 700925 bytes | |
| dc.format.extent | 349373 bytes | |
| dc.format.extent | 272986 bytes | |
| dc.format.extent | 4329647 bytes | |
| dc.format.mimetype | application/pdf | |
| dc.format.mimetype | application/pdf | |
| dc.format.mimetype | application/pdf | |
| dc.format.mimetype | application/pdf | |
| dc.format.mimetype | application/pdf | |
| dc.format.mimetype | application/pdf | |
| dc.format.mimetype | application/pdf | |
| dc.format.mimetype | application/pdf | |
| dc.language.iso | th | es |
| dc.publisher | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย | en |
| dc.rights | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย | en |
| dc.title | เครื่องทดสอบวงจรประมวลเชิงเลขควบคุม โดยไมโครโปรเซสเซอร์ | en |
| dc.title.alternative | A microprocessor controlled digital IC tester | en |
| dc.type | Thesis | es |
| dc.degree.name | วิศวกรรมศาสตรมหาบัณฑิต | es |
| dc.degree.level | ปริญญาโท | es |
| dc.degree.discipline | วิศวกรรมไฟฟ้า | es |
| dc.degree.grantor | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย | en |
| Appears in Collections: | Grad - Theses | |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Soonthorn_Va_front.pdf | 526.63 kB | Adobe PDF | View/Open | |
| Soonthorn_Va_ch1.pdf | 578.93 kB | Adobe PDF | View/Open | |
| Soonthorn_Va_ch2.pdf | 427.05 kB | Adobe PDF | View/Open | |
| Soonthorn_Va_ch3.pdf | 2.26 MB | Adobe PDF | View/Open | |
| Soonthorn_Va_ch4.pdf | 684.5 kB | Adobe PDF | View/Open | |
| Soonthorn_Va_ch5.pdf | 341.18 kB | Adobe PDF | View/Open | |
| Soonthorn_Va_ch6.pdf | 266.59 kB | Adobe PDF | View/Open | |
| Soonthorn_Va_back.pdf | 4.23 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.