Please use this identifier to cite or link to this item: https://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/33052
Title: การออกแบบแผนการตรวจสอบหลายขั้นตอนในโรงงานผลิตแผ่นวงจรพิมพ์
Other Titles: Design of multi-stage inspection plan in a printed circuit board factory
Authors: สุรินทร์ ศิริคำหอม
Advisors: นภัสสวงศ์ โรจนโรวรรณ
Other author: จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์
Advisor's Email: Napassavong.R@Chula.ac.th
Subjects: การควบคุมคุณภาพ
ต้นทุนและประสิทธิผล
การควบคุมกระบวนการผลิต
อุตสาหกรรมแผงวงจรพิมพ์
Quality control
Cost effectiveness
Process control
Printed circuits industry
Issue Date: 2552
Publisher: จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
Abstract: ออกแบบแผนการตรวจสอบหลายขั้นตอน เพื่อลดต้นทุนคุณภาพในโรงงานผลิตแผ่นวงจรพิมพ์ เนื่องมาจากต้นทุนคุณภาพของโรงงานกรณีศึกษามีค่าสูง โดยผู้วิจัยได้พัฒนาสมการตัวแบบต้นทุนคุณภาพ โดยตัวแบบต้นทุนคุณภาพจะประกอบด้วย ค่าใช้จ่ายด้านการตรวจสอบ ค่าใช้จ่ายในการปฏิเสธลอตการผลิต และค่าใช้จ่ายในการยอมรับลอตการผลิต ซึ่งค่าใช้จ่ายเหล่านี้ขึ้นอยู่กับค่าพารามิเตอร์ของแผนการตรวจสอบคุณภาพ ซึ่งได้แก่ ขนาดตัวอย่างและเลขยอมรับในแต่ละขั้นตอนการตรวจสอบคุณภาพ โดยแผนการตรวจสอบคุณภาพที่นำมาใช้ในงานวิจัยนี้คือ แผนการตรวจสอบคุณภาพแบบสุ่มตัวอย่าง เพื่อการยอมรับโดยวิธีการนับตามมาตรฐาน ANSI/ASQC Z1.4 แบบเชิงเดี่ยวและแบบเชิงคู่ ซึ่งเป็นที่รู้จักและใช้กันอย่างแพร่หลาย จากนั้นใช้สมการที่พัฒนาขึ้นในการหาค่าของขนาดตัวอย่าง และเลขยอมรับในแต่ละกระบวนการตรวจสอบคุณภาพ ที่ทำให้ต้นทุนคุณภาพต่อลอตลดลง โดยที่ระดับคุณภาพผ่านออกเฉลี่ยของผลิตภัณฑ์สำเร็จรูปไม่ลดลง เมื่อเปรียบเทียบกับแผนการตรวจสอบคุณภาพปัจจุบัน (IPC-6012B) ผลการเลือกค่าพารามิเตอร์ของแผนการตรวจสอบคุณภาพ โดยตัวแบบต้นทุนคุณภาพพบว่า ค่าพารามิเตอร์จากแผนการตรวจสอบคุณภาพแบบเชิงเดี่ยวให้ต้นทุนคุณภาพต่ำกว่าแบบเชิงคู่ เนื่องจากแผนการตรวจสอบคุณภาพแบบเชิงเดี่ยวสามารถลดต้นทุนความบกพร่องทางคุณภาพได้สูงกว่า การเพิ่มขึ้นของต้นทุนในการตรวจสอบคุณภาพ เมื่อเปรียบเทียบกับแผนการตรวจสอบคุณภาพแบบเชิงคู่ และเมื่อเปรียบเทียบแผนการตรวจสอบคุณภาพแบบเชิงเดี่ยวและเชิงคู่ กับแผนการตรวจสอบคุณภาพปัจจุบัน พบว่าสามารถลดต้นทุนคุณภาพต่อลอตลงได้ 4.42% และ 4.18% ตามลำดับ อีกทั้งยังทำให้ระดับคุณภาพผ่านออกเฉลี่ยดีขึ้นอีกด้วย
Other Abstract: To design multi-stage inspection plans in a printed circuit board (PCB) factory for reducing total cost of quality because total cost of quality of a case study factory is substantial. The author develops the cost model based on the concept of Cost of Quality (CoQ). The developed cost model consists of inspection cost, cost of lot rejection, and cost of lot acceptance. These costs depend on sampling parameters, which are sample size and acceptance number, in each of the inspection steps. The inspection plans considered in this research are based on the widely-used ANSI/ASQC Z1.4 standard single and double sampling plans. The developed cost model is then used to select the values of sample size and acceptance number at each inspection step in order to minimize the total cost of quality with the constraints that the average outgoing quality (AOQ) of finished product is not allowed to increase when compared with the previous sampling plans (IPC-6012B). It is found that the selected parameter values of the single sampling plan based on the proposed cost-based model provide lower total cost of quality compared with the cost of the double sampling plan. Even though the single sampling plan introduces higher inspection cost than that of the double sampling plan, it has much lower failure cost. In addition, the cost-based single and double sampling plans provide 4.48% and 4.14% cost saving respectively when compared with the previous sampling plan. Moreover, the values of the average outgoing quality obtained from both proposed plans are better than that of the previous plan.
Description: วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2552
Degree Name: วิศวกรรมศาสตรมหาบัณฑิต
Degree Level: ปริญญาโท
Degree Discipline: วิศวกรรมอุตสาหการ
URI: http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/33052
URI: http://doi.org/10.14457/CU.the.2009.874
metadata.dc.identifier.DOI: 10.14457/CU.the.2009.874
Type: Thesis
Appears in Collections:Eng - Theses

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
surin_si.pdf9.13 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.