Please use this identifier to cite or link to this item: https://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/48304
Title: ลักษณะเฉพาะทางไฟฟ้าของรอยต่อวิวิธพันธุ์ของเซลล์แสงอาทิตย์ CulnSe2/CdS ชนิดฟิล์มบาง
Other Titles: Electrical characterization of CulnSe2/CdS thin film solar cell heterojunction
Authors: สุคคเณศ ตุงคะสมิต
Advisors: ขจรยศ อยู่ดี
Other author: จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. บัณฑิตวิทยาลัย
Advisor's Email: ไม่มีข้อมูล
Subjects: เซลล์แสงอาทิตย์
Heterojunction
Issue Date: 2538
Publisher: จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
Abstract: ได้มีการเตรียมรอยต่อวิวิธพันธุ์ CulnSe2/Cds ขึ้น เพื่อทำการศึกษาลักษณะเฉพาะทางไฟฟ้าทั้งรอยต่อชนิดที่เตรียมขึ้นบนชิ้นผลึกเดี่ยวของ CulnSe2 และรอยต่อชนิดฟิล์มบาง อีกทั้งได้จัดสร้างระบบวัดลักษณะเฉพาะทางไฟฟ้าของรอยต่อซึ่งควบคุมและบันทึกผลด้วยคอมพิวเตอร์ เพื่อช่วยในการวัดและศึกษารอยต่อที่เตรียมขึ้น จากผลการศึกษา พบว่า รอยต่อที่เตรียมได้แสดงสมบัติการเรียงกระแสที่ดีในเชิงของการเป็นไดโอด โดยให้ค่าของตัวแปรอุดมคติประมาณ 2.0 ที่ค่ากระแสอิ่มตัวเท่ากับ 3.28 x10-7 A สำหรับรอยต่อชนิดที่เตรียมบนชิ้นผลึกเดี่ยว และประมาณ 1.41x10-6 A สำหรับรอยต่อชนิดฟิล์มบาง และพบว่า รอยต่อที่เตรียมได้มีการตอบสนองต่อแสงในเชิงของการเป็นเซลล์แสงอาทิตย์ได้พอสมควร โดยให้ค่าประสิทธิภาพการแปลงพลังงานประมาณ 1.24% ที่ค่ากระแสปิดวงจร 0.55 mA และที่ความต่างศักย์เปิดวงจร 215 mV จากลักษณะเฉพาะความจุไฟฟ้า-ความต่างศักย์ พบว่า ความต่างศักย์การแพร่มีค่าประมาณ 0.4-0.5 v และความเข้มข้นพาหะมีค่าประมาณ 1016 cm-1 ซึ่งใกล้เคียงกับค่าจากการวัดสภาพเคลื่อนที่ได้ของฮอลล์ อีกทั้งพบการปรากฏของสิ่งเจือระดับลึกในโครงสร้างรอยต่อ จากการศึกษาลักษณะเฉพาะกระแส-ความต่างศักย์ ที่อุณหภูมิต่างๆ ในช่วง 115-273 K พบว่า กลไกการขนส่งระหว่างรอยต่อสอดคล้องกับแบบจำลองการทะลุผ่าน-รวมตัว
Other Abstract: The CuInSe2/Cds heterojunctions were fabricated for the study of electrical characteristics, using both single crystals and thin films of CuInSe2. The computerized electrical characteristic measurement system was set up to use in this heterojunction study. From the results, the prepared heterojunctions showed a good diode rectification behavior with an ideality factor of about 2.0 and a saturated current of about 3.28x10-7 A and 1.41x10-6 A in the case of the single crystals and thin films, respectively. The Junctions also showed response to light with a conversion efficiency of about 1.24˚at 0.55 mA of shorted circuit current and 215 mV of open circuit voltage. From the C-V measurement, it was found that the diffusion voltage was about 0.4-0.5 V and the carrier concentration was about 1016 cm-3 which are near the values obtained from the hall mobility measurement. Deep-level impurities were also observed at the junction interface. The I-V measurement at temperature range of about 115-273 K showed that the transport mechanism between the junctions was consistent with the tunneling-recombination model.
Description: วิทยานิพนธ์ (วท.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2538
Degree Name: วิทยาศาสตรมหาบัณฑิต
Degree Level: ปริญญาโท
Degree Discipline: ฟิสิกส์
URI: http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/48304
ISBN: 9746328662
Type: Thesis
Appears in Collections:Grad - Theses

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Sukkaneste_tu_front.pdf2.15 MBAdobe PDFView/Open
Sukkaneste_tu_ch1.pdf414.45 kBAdobe PDFView/Open
Sukkaneste_tu_ch2.pdf2.89 MBAdobe PDFView/Open
Sukkaneste_tu_ch3.pdf1.43 MBAdobe PDFView/Open
Sukkaneste_tu_ch4.pdf2.32 MBAdobe PDFView/Open
Sukkaneste_tu_ch5.pdf1.33 MBAdobe PDFView/Open
Sukkaneste_tu_ch6.pdf4.17 MBAdobe PDFView/Open
Sukkaneste_tu_ch7.pdf529.24 kBAdobe PDFView/Open
Sukkaneste_tu_back.pdf2 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.