Please use this identifier to cite or link to this item:
https://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/5969
| Title: | การลดความเค้นของอุปกรณ์ในบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์ |
| Other Titles: | Reduction of device stresses in electronic ballasts |
| Authors: | จิโรจน์ พรวัฒนา |
| Advisors: | ยุทธนา กุลวิทิต |
| Other author: | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์ |
| Advisor's Email: | Youthana.K@chula.ac.th |
| Subjects: | บัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์ ความเครียดและความเค้น |
| Issue Date: | 2543 |
| Publisher: | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย |
| Abstract: | วิทยานิพนธ์นี้นำเสนอการศึกษาความเค้นของอุปกรณ์ในวงจรบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์ โดยศึกษาการทำงานของบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์ที่มีการออกแบบและเงื่อนไขการทำงานที่แตกต่างกัน เพื่อค้นหาสาเหตุของการเกิดความเค้นของอุปกรณ์ในวงจรบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์เนื่องจากอุปกรณ์บางส่วนและการทำงานของวงจรบัลลาสต์มีลักษณะไม่เป็นเชิงเส้นทำให้ยากต่อการวิเคราะห์อย่างถูกต้อง ดังนั้นการวิเคราะห์วงจรบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์จึงใช้วิธีการประมาณวงจรบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์ด้วยวงจรสมมูลสำหรับความถี่หลักมูลที่ใช้ตัวต้านทานแบบเชิงเส้นแทนหลอดฟลูออเรสเซนต์และใช้วิธีการทางกราฟประกอบการวิเคราะห์วงจรด้วย การศึกษาความเค้นของอุปกรณ์ในวงจรบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์แยกเป็นสองกรณีคือ การศึกษาความเค้นที่เกิดขึ้นในขณะจุดหลอดและการศึกษาความเค้นที่เป็นผลจากการเปลี่ยนแปลงขนาดของแรงดันไฟฟ้ากระแสสลับด้านเข้า และการเปลี่ยนแปลงคุณสมบัติของหลอดพร้อมทั้งได้นำเสนอวิธีการแก้ไขการเกิดความเค้นแต่ละแบบไว้ด้วย การทดสอบความถูกต้องของผลการวิเคราะห์และแนวทางการแก้ไขทำโดยการทดลองด้วยวงจรจริง |
| Other Abstract: | This thesis presents a study of device stress is in electronic ballasts. Circuit operations under different environment conditions and circuit designs were analyzed to identify the origins of the stress in high frequency electronic ballasts. Because some of the circuit components in the lamp ballast system and their operation are nonlinear, exact circuit analysis and design could hardly be done. Fundamental frequency approximation analytical technique, linear lamp model, as well as graphical technique, were used to establish the circuit equations. Two main catagories of device stress were studied: stresses occuring during lamp ignition and stresses stimulated by both the input voltage variation and the lamp equivalent resistance change. Stress reduction techniques for each type of stress were proposed and verified experimentally. |
| Description: | วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2543 |
| Degree Name: | วิศวกรรมศาสตรมหาบัณฑิต |
| Degree Level: | ปริญญาโท |
| Degree Discipline: | วิศวกรรมไฟฟ้า |
| URI: | http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/5969 |
| ISBN: | 9743464344 |
| Type: | Thesis |
| Appears in Collections: | Eng - Theses |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| jirote.pdf | 1.48 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.