การตอบสนองต่อรังสีเอกซ์ของฉากเรืองรังสี PI-200

วราภรณ์ จันทร์เทศ

dc.contributor.advisor	นเรศร์ จันทน์ขาว
dc.contributor.advisor	อรรถพร ภัทรสุมันต์
dc.contributor.author	วราภรณ์ จันทร์เทศ
dc.contributor.other	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์
dc.date.accessioned	2015-09-02T03:06:10Z
dc.date.available	2015-09-02T03:06:10Z
dc.date.issued	2555
dc.identifier.uri	http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/44868
dc.description	วิทยานิพนธ์ (วท.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2555	en_US
dc.description.abstract	งานวิจัยนี้เป็นการศึกษาทดลองเกี่ยวกับการตอบสนองต่อรังสีเอกซ์ของฉากเรืองรังสีแกดโดลิเนียมออกซีซัลไฟด์ Kyokko PI-200 สำหรับใช้เป็นฉากเพิ่มความดำของฟิล์มถ่ายภาพด้วยรังสีเอกซ์ที่ใช้ในงานอุตสาหกรรม ได้ทดลองถ่ายภาพด้วยรังสีเอกซ์โดยใช้ฟิล์มรังสีเอกซ์ประกบกับฉากเรืองรังสี PI-200 ที่ค่าศักดาไฟฟ้าสูงตั้งแต่ 80 ถึง 250 กิโลโวลต์ และเอกซ์โพเชอร์ 3 มิลลิแอมแปร์-นาที เปรียบเทียบกับเมื่อประกบกับฉากตะกั่ว และฉากแกดโดลิเนียมออกซีซัลไฟด์ DRZ-Std ผลการวิจัยพบว่าความดำของฟิล์มมีค่าเพิ่มมากขึ้นเมื่อพลังงานของรังสีเอกซ์สูงขึ้น ซึ่งตรงกันข้ามกับฟิล์มที่ไม่มีฉากประกบที่ความดำของฟิล์มกลับลดลงเมื่อพลังงานของรังสีเอกซ์สูงขึ้น และยังพบว่าที่ค่าศักดาไฟฟ้า 250 กิโลโวลต์ ความดำของฟิล์มเมื่อใช้ฉากเรืองรังสี PI-200, DRZ-Std และฉากตะกั่ว มีค่าสูงกว่าฟิล์มที่ไม่มีฉากเพิ่มความดำของภาพประมาณ 12, 11 และ 4 เท่า ตามลำดับ จึงสามารถสรุปได้ว่าฉากเรืองรังสี PI-200 สามารถช่วยเพิ่มความเร็วของฟิล์มได้อย่างมีนัยสำคัญสำหรับการถ่ายภาพด้วยรังสีเอกซ์พลังงานสูง แต่คุณภาพของภาพลดลงเล็กน้อย ดังนั้นจึงบ่งบอกว่าฉากเรืองรังสีชนิด PI-200 เหมาะสำหรับการถ่ายภาพด้วยรังสีเอกซ์พลังงานสูง เมื่อความละเอียดของภาพไม่ได้เป็นปัจจัยสำคัญนัก เช่น ในการตรวจวัดบริเวณที่เกิดการกัดกร่อน การสะสมของวัสดุ และการอยู่ผิดตำแหน่ง เป็นต้น	en_US
dc.description.abstractalternative	In this research, response of Kyokko PI-200 gadolinium oxysulfide (GOS) fluorescent screen to x-rays was experimentally investigated to be used as the intensifying screen for Kodak industrial x-ray film. The fluorescent sreen coupled with x-ray film was exposured to x-rays from an x-ray tube at the tube kilovoltage from ranging from 80 to 250 kV and the GOS fluorescent of 3 milliampare-minutes in comparison to lead foil screen and Kyokko DRZ-Std GOS fluorescent screen. The results showed that the film density increased with increasing of the tube kVp. In contrast, the film density of bare film, without a screen, decreased as the tube kVp increased. It was also observed that response of the x-ray film coupled with the PI-200 fluorescent screen, the DRZ-Std fluorescent screen and the lead foil screen to x-rays at 250 kVp was approximately 12, 11 and 4 times higher than that of the bare film respectively. It could be concluded that the PI-200 fluorescent screen could significantly increase film speed particularly for high energy x-ray radiography but the image quality was slightly decreased. It was, therefore, indicated that the PI-200 fluorescent screen was suitable for high energy x-ray radiography when image resolution was not an important factor such as in detection of area corrosion, material deposition and misalignment.	en_US
dc.language.iso	th	en_US
dc.publisher	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย	en_US
dc.relation.uri	http://doi.org/10.14457/CU.the.2012.1661
dc.rights	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย	en_US
dc.subject	รังสีเอกซ์	en_US
dc.subject	การบันทึกภาพด้วยรังสี	en_US
dc.subject	X-rays	en_US
dc.subject	Radiography	en_US
dc.title	การตอบสนองต่อรังสีเอกซ์ของฉากเรืองรังสี PI-200	en_US
dc.title.alternative	Response of PI-200 fluorescent screen to x-rays	en_US
dc.type	Thesis	en_US
dc.degree.name	วิทยาศาสตรมหาบัณฑิต	en_US
dc.degree.level	ปริญญาโท	en_US
dc.degree.discipline	นิวเคลียร์เทคโนโลยี	en_US
dc.degree.grantor	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย	en_US
dc.email.advisor	fnenck@eng.chula.ac.th
dc.email.advisor	Attaporn.P@chula.ac.th
dc.identifier.DOI	10.14457/CU.the.2012.1661