Please use this identifier to cite or link to this item: https://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/11628
Title: การตรวจหารอยบกพร่องในชิ้นงานอะลูมิเนียมโดยใช้ดิฟเฟอเรนเชียลแกมมาเรย์สแกตเทอริงสเปกโตรสโคปี
Other Titles: Flaw detection in aluminium specimens using differential gamma-ray scattering spectroscopy
Authors: อภิชาติ ศิริวิทย์ปรีชา
Advisors: นเรศร์ จันทน์ขาว
วิศิษฐ ทวีปรังษีพร
Other author: จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. บัณฑิตวิทยาลัย
Advisor's Email: Nares.C@Chula.ac.th
ไม่มีข้อมูล
Subjects: อะลูมินัม
ดิฟเฟอเรนเชียลแกมมาเรย์สแกตเทอริงสเปกโตรสโคปี
รอยบกพร่องในชิ้นงาน
วัสดุศาสตร์
Issue Date: 2541
Publisher: จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
Abstract: การวิจัยนี้มีวัตถุประสงค์เพื่อศึกษาและพัฒนาวิธีตรวจหารอยบกพร่องในชิ้นงาน อะลูมิเนียมโดยใช้ดิฟเฟอเรนเชียลแกมมาเรย์สแกตเทอริงสเปกโตรสโคปี รอยบกพร่องภายในชิ้นงานอะลูมิเนียมสามารถวิเคราะห์ได้จากดิฟเฟอเรนเชีย ลสเปกตรัมซึ่งได้จากการนำคอมพ์ตันสแกตเทอริงที่กระเจิงจากชิ้นงาน อะลูมิเนียมตัวอย่างที่ต้องการทดสอบลบออกจากคอมพ์ตันสแกตเทอริงสเปกตรัมที่ กระเจิงจากชิ้นงานอะลูมิเนียมอ้างอิงที่ไม่มีรอยบกพร่อง ในการทดลองได้ใช้ชิ้นงานอะลูมิเนียมตันรูปทรงกระบอก ขนาดเส้นผ่าศูนย์กลาง 5 เซนติเมตร ยาว 9 เซนติเมตร ต้นกำเนิดรังสี Cs-137 ความแรงรังสี 5.5 มิลลิคูรี จัดระบบวัดรังสีให้หัววัดรังสีทำมุม 90 ํ กับแนวลำรังสี แล้ววัดรังสีที่กระเจิงจากชิ้นงานอะลูมิเนียมเข้าสู่หัววัดรังสี เพื่อศึกษาปัจจัยที่มีผลต่อดิฟเฟอเรนเซียลสเปกตรัมคือ เมื่อตำแหน่งของรอยบกพร่องภายในชิ้นงาน เวลาที่ใช้ในการวัดรังสี ขนาดของรอยบกพร่องและชิ้นงานอะลูมิเนียมต่างกัน ผลการศึกษาปัจจัยที่มีผลต่อดิฟเฟอเรนเชียลสเปกตรัมพบว่า เมื่อตำแหน่งของรอยบกพร่องต่างกัน ลักษณะของดิฟเฟอเรนเชียลจะต่างกันคือ ถ้ารอยบกพร่องอยู่ในแนวลำรังสีผ่านดิฟเฟอเรนเชียลจะมีพีคเป็นบวก พลังงานที่มีความเข้มรังสีสูงสุดจะสูงกว่า 288 keV เมื่อรอยบกพร่องอยู่ใกล้ต้นกำเนิดรังสี และต่ำกว่า 288 keV เมื่ออยู่ไกลกว่าจุดศูนย์กลางชิ้นงานจากต้นกำเนิดรังสี ถ้ารอยบกพร่องอยู่ด้านใกล้หัววัดรังสี ดิฟเฟอเรนเชียลสเปกตรัมจะมีพีคเป็นลบและจะกระจายเป็นบวกทุกช่วงพลังงานถ้า รอยบกพร่องอยู่ไกลกว่าแนวลำรังสีจากหัววัดรังสี เมื่อใช้ชิ้นงานอะลูมิเนียมต่างกันดิฟเฟอเรนเชียลสเปกตรัมจะยังมีลักษณะ คล้ายกัน แต่มีความเข้มรังสีน้อยกว่าสำหรับขนาดของรอยบกพร่องที่เล็กที่สุดที่สามารถ วิเคราะห์ได้จากการวิจัยนี้มีเส้นผ่าศูนย์กลางประมาณ 0.4 เซนติเมตร
Other Abstract: The aim of this research was to investigate and develop a method for detecting flaws in aluminium specimens using differential gamma-ray scattering spectroscopy. Flaw detection was accomplished by subtracting compton scattering spectrum obtained from test specimens and an unflawed reference specimen. Aluminium specimens with a diameter of 5 cm and 9 cm in length were used in this study. A 5.5 mCi Cs-137 radioactive source was used with the detection system making a 90 ํC angle with radiation beam. Factor such as flaw position, detection time, flaw size and different aluminium grade were investigated. This research revealed the following factors that influence the differential spectrum. When the flaw positions was varied, it was found that if the flaw was on the beam path, the subtraction resulted in a positive different spectrum with its peak located higher than 288 keV, when the flaw position was near the source, and lower if it was further away from the center of the aluminium cylinder the source. If the flaw was near the detector, the subtraction resulted in a negative differential spectrum. While it becomes positive if the flaw was further away from the beam path. When different grades of aluminium were used, there was no significant change in the differential spectrum. For this particular experimental set up, the smallest flaw size that can be detected was extrapolated to be 0.4 cm.
Description: วิทยานิพนธ์ (วท.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2541
Degree Name: วิทยาศาสตรมหาบัณฑิต
Degree Level: ปริญญาโท
Degree Discipline: นิวเคลียร์เทคโนโลยี
URI: http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/11628
ISBN: 9743324674
Type: Thesis
Appears in Collections:Grad - Theses

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Apichart_Si_front.pdf1.07 MBAdobe PDFView/Open
Apichart_Si_ch1.pdf762.4 kBAdobe PDFView/Open
Apichart_Si_ch2.pdf1.41 MBAdobe PDFView/Open
Apichart_Si_ch3.pdf1.2 MBAdobe PDFView/Open
Apichart_Si_ch4.pdf1.22 MBAdobe PDFView/Open
Apichart_Si_ch5.pdf930.52 kBAdobe PDFView/Open
Apichart_Si_back.pdf871.78 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.