Please use this identifier to cite or link to this item: https://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/31276
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.advisorเกรียงศักดิ์ เฉลิมาติระกูล-
dc.contributor.authorธนวิชญ์ ชุลิกาวิทย์-
dc.contributor.otherจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. บัณฑิตวิทยาลัย-
dc.date.accessioned2013-05-24T09:38:10Z-
dc.date.available2013-05-24T09:38:10Z-
dc.date.issued2532-
dc.identifier.isbn9745768871-
dc.identifier.urihttp://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/31276-
dc.descriptionวิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2532en
dc.description.abstractโครงการวิจัยนี้เป็นการศึกษากระบวนการผลิตตัวเก็บประจุมอสและทรานซิสเตอร์แบบมอส โดยอาศัยเทคโนโลยีที่มีในห้องปฏิบัติการวิจัยสิ่งประดิษฐ์สารกึ่งตัวนำ เพื่อเป็นพื้นฐานในการผลิตวงจรรวมขึ้น ในห้องปฏิบัติการวิจัยสิ่งประดิษฐ์สารกึ่งตัวนำต่อไป ในการวิจัยได้ผลิตตัวเก็บประจุมอสและทรานซิสเตอร์แบบมอสขึ้นบนแว่นผลึกเดียวกัน แว่นผลึกที่ใช้เป็นแว่นผลึกชนิดพี ขัดมันด้านเดียว มีค่าความต้านทานจำเพาะระหว่าง 18-24 โอห์ม-เซนติเมตร โดยศึกษาถึงเงื่อนไขในการผลิตตัวเก็บประจุมอสเพื่อให้ได้ตัวเก็บประจุมอสที่มีเกตออกไซด์คุณภาพดี ศึกษาเงื่อนไขในการแพร่ซึมเพื่อให้ได้ชั้นแพร่ซึมที่มีคุณภาพตามต้องการ และศึกษาลักษณะสมบัติทางไฟฟ้าของทรานซิสเตอร์แบบมอสที่มีโครงสร้างต่าง ๆ กัน โดยใช้เงื่อนไขในการผลิตที่ได้ศึกษามาแล้ว ผลการวิจัยได้แสดงให้เห็นว่า การผลิตตัวเก็บประจุมอสให้มีเกตออกไซด์คุณภาพดีนั้น ต้องอาศัยความประณีตในการผลิต และมีการดำเนินการผลิตอย่างต่อเนื่องตลอดกระบวนการ นอกจากนี้แล้วการทำให้แว่นผลึกเย็นตัวลงอย่างรวดเร็วโดยการดึงแว่นผลึกออกจากเตาอ๊อกซิเดชันหลังจากทำเกตออกไซด์อย่างรวดเร็ว จะทำให้อัตราการพบตัวเก็บประจุมอสที่มีเกตออกไซด์คุณภาพดีเพิ่มขึ้นอย่างมาก การแพร่ซึมเพื่อสร้างเดรนและวอร์สของทราสซิสเตอร์แบบมอสจะทำโดยการแพร่ซึมฝาก (Predeposition) ของสารเจือปนฟอสฟอรัส โดยที่ความลึกของหัวต่อของเดรนและฟอร์สจะขึ้นอยู่กับเวลาที่ใช้ในการแพร่ซึม ทรานซิสเตอร์แบบมอสที่ผลิตขึ้นมีลักษณะสมบัติทางไฟฟ้าเปลี่ยนแปลงตามลักษณะโครงสร้างโดยมีค่าแรงดันขีดเริ่มเปลี่ยน (Threshold voltage) เป็น -1.81 V และอัตราการพบทรานซิสเตอร์ที่มีลักษณะสมบัติทางไฟฟ้าดี (ซึ่งได้จากการวัดทรานซิสเตอร์มอส 33 ตัว) เป็น 82%-
dc.description.abstractalternativeStudies were conducted on fabrication processes of MOS capacitors and MOS transistors, in order to obtain the know-how which could be used in fabricating MOS IC's. Si wafers (p-type), polished on one side, and with specific resistivity of 18-24 Ω-cm, were used as substrates for making both MOS capacitors and transistors on the same chips. Best conditions were determined on how to i) fabricate MOS capacitors with good gate-oxide quality ii) make good diffusion layers. MOS transistors fabricated with different geometries were characterized electrically. The research results showed that in order to get good MOS capacitors, great care must be taken in the fabrication process which had to be done on a continuous fashion from start to finish. Another factor which improved yield considerably was the abrupt cooling of samples after gate-oxidation. Drains and sources on MOS transistors were made by phosphorus-diffusion. Junction depth of diffused layers were time-dependent. Electrical characteristics of MOS transistors varied according to their structures, with threshold voltage in the neighborhood of -1.81 V. The yield of these transistors was found to be about 82% (based on 33 transistors).-
dc.format.extent1047350 bytes-
dc.format.extent398289 bytes-
dc.format.extent1912280 bytes-
dc.format.extent1622999 bytes-
dc.format.extent1358509 bytes-
dc.format.extent1404185 bytes-
dc.format.extent650426 bytes-
dc.format.extent951053 bytes-
dc.format.extent430933 bytes-
dc.format.extent3373258 bytes-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.language.isothes
dc.publisherจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัยen
dc.rightsจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัยen
dc.titleการศึกษากระบวนการผลิตตัวเก็บประจุมอสและทรานซิสเตอร์แบบมอสen
dc.title.alternativeStudies on the Mos capacitor and Mosfet fabrication processesen
dc.typeThesises
dc.degree.nameวิศวกรรมศาสตรมหาบัณฑิตes
dc.degree.levelปริญญาโทes
dc.degree.disciplineวิศวกรรมไฟฟ้าes
dc.degree.grantorจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัยen
Appears in Collections:Grad - Theses

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Dhanavich_ch_front.pdf1.02 MBAdobe PDFView/Open
Dhanavich_ch_ch1.pdf388.95 kBAdobe PDFView/Open
Dhanavich_ch_ch2.pdf1.87 MBAdobe PDFView/Open
Dhanavich_ch_ch3.pdf1.58 MBAdobe PDFView/Open
Dhanavich_ch_ch4.pdf1.33 MBAdobe PDFView/Open
Dhanavich_ch_ch5.pdf1.37 MBAdobe PDFView/Open
Dhanavich_ch_ch6.pdf635.18 kBAdobe PDFView/Open
Dhanavich_ch_ch7.pdf928.76 kBAdobe PDFView/Open
Dhanavich_ch_ch8.pdf420.83 kBAdobe PDFView/Open
Dhanavich_ch_back.pdf3.29 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.