การลดข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มบนจานบันทึกข้อมูลของฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟ

Abstract

งานวิจัยนี้มีวัตถุประสงค์เพื่อลดจำนวนของเสียในกระบวนการผลิตฮาร์ดดิสก์ ไดร์ฟอันเนื่องมาจากข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มที่เกิดขึ้นที่จานบันทึกข้อมูล โดยการประยุกต์ใช้ 5 ขั้นตอนของเทคนิคซิกซ์ ซิกม่า ในขั้นแรกได้เลือกข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยและรอยจุดเป็นกลุ่มมาวิเคราะห์ก่อนเนื่องจากมีความสำคัญที่สุด โดยมีสัดส่วนของเสียเท่ากับ 6.03% และ 2.53% ตามลำดับ ขั้นที่สองพบว่าระยะระหว่างตัวหยิบกับจานบันทึกข้อมูล ความคมของฝาครอบระยะยกตัวของชุดหัวอ่าน–เขียน และจำนวนการทดสอบ load/unload คือ ปัจจัยนำเข้าที่มีผลต่อข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอย ขณะที่แรงลมในการฉีดวางและแรงลมในการดูดหยิบแผ่นคั่นจานบันทึกข้อมูล คือ ปัจจัยที่มีผลต่อข้อบกพร่องประเภทรอยจุดเป็นกลุ่ม ถัดมาได้ทำการออกแบบการทดลองแบบบ็อกซ์-เบ็ห์นเคนและการทดลองเชิงแฟคทอเรียลตามลำดับ โดยผลที่ได้จากการออกแบบการทดลองจะใช้วิธีการวิเคราะห์พื้นผิวตอบสนองถูกประยุกต์ใช้เพื่อหาค่าที่เหมาะสมที่สุดสำหรับปัจจัยจำนวนสี่ปัจจัยซึ่งจะทำให้เปอร์เซ็นต์ข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยน้อยที่สุด ส่วนวิธีเชิงเส้นทั่วไปถูกประยุกต์ใช้เพื่อหาค่าปัจจัยจำนวนสองปัจจัยสำหรับข้อบกพร่องประเภทรอยจุดเป็นกลุ่ม โดยค่าของปัจจัยที่เหมาะสมที่สุดในกระบวนการ คือ ระยะระหว่างตัวหยิบกับจานบันทึกข้อมูล 3 มิลลิเมตร ความคมของฝาครอบ 0.002 นิ้ว ระยะยกตัวของชุดหัวอ่าน – เขียน 0.01 นิ้ว และจำนวนการทดสอบ load/unload 10,000 ครั้ง เมื่อติดตามผลด้วยแผนภูมิควบคุม p สำหรับข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอย แผนภูมิความคุม p นี้ยังใช้ในการติดตามผลของข้อบกพร่องประเภทรอยจุดเป็นกลุ่มด้วยเงื่อนไขของกระบวนการที่สนใจ คือ 2,250 มิลลิเมตรปรอท และ 440 มิลลิเมตรปรอท ของแรงในการฉีดวางและดูดหยิบแผ่นคั่นจานบันทึกข้อมูลตามลำดับ หลังการปรับปรุง พบว่าสัดส่วนของข้อบกพร่องประเภทรอยขีดที่วนเป็นก้นหอยลดลง 53.56% โดยลดจากเดิม 6.03% เป็น 2.80% ขณะที่สัดส่วนของข้อบกพร่องประเภทรอยจุดเป็นกลุ่มลดลง 60.55% โดยลดจากเดิม 2.53% เป็น 0.99%