Please use this identifier to cite or link to this item:
https://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/45889
| Title: | การพัฒนาแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาสำหรับการสอบคัดเลือก |
| Other Titles: | DEVELOPMENT OF AN EDUCATIONAL TECHNOLOGY APTITUDE TEST FOR ADMISSION |
| Authors: | หทัยนันท์ ตาลเจริญ |
| Advisors: | อรจรีย์ ณ ตะกั่วทุ่ง สิริพันธุ์ สุวรรณมรรคา |
| Other author: | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะครุศาสตร์ |
| Advisor's Email: | Onjaree.N@Chula.ac.th,Onjaree.N@Chula.ac.th Suwatana.S@Chula.ac.th,Siripaarn.S@Chula.ac.th |
| Issue Date: | 2557 |
| Publisher: | จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย |
| Abstract: | การวิจัยครั้งนี้มีวัตถุประสงค์เพื่อพัฒนาแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาสำหรับสอบคัดเลือก โดย 1) ศึกษาองค์ประกอบของความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาจากผู้เชี่ยวชาญทางเทคโนโลยีการศึกษา จำนวน 10 คน โดยใช้เทคนิคการสนทนากลุ่ม 2) สร้างแบบวัดความถนัดแล้วตรวจสอบความตรงเชิงเนื้อหาโดยผู้เชี่ยวชาญ 8 คน โดยใช้เทคนิคการสนทนากลุ่ม 3) นำแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาไปทดสอบกับนิสิตนักศึกษา คณะครุศาสตร์ศึกษาศาสตร์ จำนวน 600 คน เพื่อวิเคราะห์องค์ประกอบเชิงยืนยัน 4) ตรวจสอบความตรงตามโครงสร้างชนิดความตรงเชิงจำแนก ด้วยวิธี Known Group Technique กับนิสิตนักศึกเทคโนโลยีการศึกษาปี 4 จำนวน 240 คน และ นิสิตนักศึกษา ครุศาสตร์ศึกษาศาสตร์ ปี4 จำนวน 80 คน และ 5) สร้างปกติวิสัย ผลการวิจัยพบว่า 1. แบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาสำหรับสอบคัดเลือก ประกอบด้วยแบบทดสอบย่อยจำนวน 9 ชุดตามองค์ประกอบความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษา คือ 1) ความถนัดทางทัศนศิลป์ 2) ความถนัดด้านการออกแบบทางเทคโนโลยีการศึกษา 3) ความถนัดด้านการพัฒนาทางเทคโนโลยีการศึกษา 4) ความถนัดด้านการใช้และการแพร่กระจายนวัตกรรมการศึกษา 5) ความถนัดด้านการจัดการทางเทคโนโลยีการศึกษา 6) ความถนัดด้านการบริการทางเทคโนโลยีการศึกษา 7) ความถนัดด้านการวิจัยทางเทคโนโลยีการศึกษา 8) ความถนัดด้านการฝึกอบรมทางเทคโนโลยีการศึกษา และ 9) ความถนัดด้านการประเมินทางเทคโนโลยีการศึกษา ตามลำดับ จากการวิเคราะห์องค์ประกอบเชิงยืนยัน พบว่า แบบวัดความถนัดทั้งฉบับมีความสอดคล้องกับความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษา 2. แบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาฉบับที่ผู้วิจัยสร้างนี้ค่าดัชนีความสอดคล้องตามความคิดเห็นของผู้เชี่ยวชาญที่ระดับ 1.00 และผลจากวิธี Known Group Technique พบว่านิสิตนักศึกษาเทคโนโลยีการศึกษา ปี4 มีคะแนนเฉลี่ยความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาในทุกด้านสูงกว่านิสิตนักศึกษา ครุศาสตร์ศึกษาศาสตร์ ปี4 อย่างมีนัยสำคัญทางสถิติที่ระดับ .05 แสดงว่ามีความตรงตามโครงสร้าง (เชิงจำแนก) สำหรับค่าสัมประสิทธิ์ความเที่ยงแบบความสอดคล้องภายในของแบบวัดความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาทั้งฉบับมีค่า .650 3. ปกติวิสัยมี 3 กลุ่ม คือ นิสิตนักศึกษาเทคโนโลยีการศึกษา นิสิตนักศึกษาเทคโนโลยีการศึกษา ปี 1 และนิสิตนักศึกษาเทคโนโลยีการศึกษา ปี4 โดยแสดงในตารางซึ่งบอกความสัมพันธ์ระหว่างคะแนนดิบ (raw score) เปอร์เซนไทล์ (percentile) และคะแนนทีปกติ (normalized T-score) ที่แปลงมาจากคะแนนดิบ โดยในแต่ละกลุ่มแยกเป็นความถนัดทางเทคโนโลยีการศึกษาในแต่ละด้านและโดยรวม |
| Other Abstract: | The purpose of this study was to develop educational technology aptitude test for admission. The procedures of the study were as follow: 1) examine factors of educational technology aptitude with 10 educational technology experts using a focus group technique 2) construct the aptitude test and examine content validity with 8 educational technology experts using a focus group technique. 3) test the aptitude test with 600 education students, and analyzed by confirmatory factor analysis. 4) Examine construct validity and discriminant validity by known group technique with 240 educational technology fourth-year students, and 80 fourth-year student in education and 5) Constructing the norms. The findings were as follows: 1. Educational technology aptitude test for admission consisted of 9 sub-tests: 1) visual art aptitude, 2) educational technology design aptitude, 3) educational technology development aptitude, 4) innovation implementation and distribution aptitude, 5) educational technology management aptitude, 6) educational technology services aptitude, 7) educational technology research aptitude, 8) educational technology training aptitude, and 9) educational technology evaluation aptitude, and analyzed by confirmatory factor analysis, the test consisted educational technology aptitude. 2. This aptitude test had 1.00 the index of consistency (IOC) by educational technology expert’s opinions, and result of known group technique revealed that educational technology fourth-year students was significantly higher than that of others fourth-year education students in all sub-tests at .05 level, supporting the construct validity (discriminant validity) . The internal consistency reliability coefficient of this test was .650. 3. According to the norms construction, the norms groups were education technology student, education technology first-year students, and education technology fourth-year students. Showing the norm groups in the table of relationship between raw score, percentile and normalizes T-score, which was derived from raw score. In each group was classified into educational technology aptitude in each factors and in the overall perspectives. |
| Description: | วิทยานิพนธ์ (ค.ด.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2557 |
| Degree Name: | ครุศาสตรดุษฎีบัณฑิต |
| Degree Level: | ปริญญาเอก |
| Degree Discipline: | เทคโนโลยีและสื่อสารการศึกษา |
| URI: | http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/45889 |
| Type: | Thesis |
| Appears in Collections: | Edu - Theses |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 5284267727.pdf | 9.9 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.