Please use this identifier to cite or link to this item: https://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/1597
Title: การศึกษาผลของการออกแบบที่แตกต่างกันต่อความเค้นของอุปกรณ์ในบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์
Other Titles: Investigation of the effect of differently designed paramerters on component stress in electronic ballasts
Authors: ไพบูลย์ สุขเถื่อน, 2517-
Advisors: ยุทธนา กุลวิทิต
Other author: จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์
Advisor's Email: Youthana.K@chula.ac.th
Subjects: บัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์
ความเครียดและความเค้น
Issue Date: 2547
Publisher: จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย
Abstract: วิทยานิพนธ์นี้นำเสนอการศึกษาผลของการออกแบบที่แตกต่างกันต่อความเค้นของอุปกรณ์ในบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์ เนื่องจากอุปกรณ์บางตัวในระบบที่ประกอบด้วยบัลลาสต์และหลอดมีลักษณะสมบัติไม่เป็นเชิงเส้นทำให้การคำนวณมีความยุ่งยาก เพื่อให้ง่ายต่อการวิเคราะห์วงจรจึงวิเคราะห์วงจรโดยการประมาณด้วยความถี่หลักมูลและใช้แบบจำลองของหลอดเป็นแบบเชิงเส้น ได้มีการศึกษาความเค้นของอุปกรณ์ 3 แบบ ได้แก่ความเค้นระหว่างการจุดหลอด ความเค้นที่เกิดจากการเปลี่ยนแปลงแรงดันด้านเข้าและค่าความต้านทานหลอดและความเค้นจากการขับนำสวิตช์ผิดจังหวะ ได้มีการศึกษาการทำงานของบัลลาสต์ที่ออกแบบและทำงานในเงื่อนไขที่แตกต่างกันเพื่อค้นหาสาเหตุของการเกิดความเค้นกับอุปกรณ์ รวมทั้งนำเสนอแนวทางลดความเค้นแต่ละแบบโดยการออกแบบที่เหมาะสม โดยได้มีการตรวจสอบแนวทางที่นำเสนอโดยการทดลอง
Other Abstract: This thesis presents the investigations of the effect of differently designed parameters on component stress in electronic ballasts. Because certain circuit's components in the lamp ballast system are nonlinear, exact circuit analysis and design could hardly be done. Fundamental frequency approximation technique and linear lamp model were used to simplify the analysis. Three main categories of device stress were studied: stress occurs during lamp ignition, stress stimulated by the input voltage variation and lamp equivalent resistance change, and stress caused by untimely gating signal. Operations characteristics of differently designed ballasts under different environmental conditions were scrutinized to identify the origin of component stresses. Stress reduction techniques, through proper circuit design, for each type of stress were proposed and verified experimentally.
Description: วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2547
Degree Name: วิศวกรรมศาสตรมหาบัณฑิต
Degree Level: ปริญญาโท
Degree Discipline: วิศวกรรมไฟฟ้า
URI: http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/1597
ISBN: 9745311782
Type: Thesis
Appears in Collections:Eng - Theses

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Paiboon.pdf9.04 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.