การลดความเค้นของอุปกรณ์ในบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์

จิโรจน์ พรวัฒนา

Please use this identifier to cite or link to this item: https://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/5969

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.advisor	ยุทธนา กุลวิทิต	-
dc.contributor.author	จิโรจน์ พรวัฒนา	-
dc.contributor.other	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์	-
dc.date.accessioned	2008-02-26T01:32:39Z	-
dc.date.available	2008-02-26T01:32:39Z	-
dc.date.issued	2543	-
dc.identifier.isbn	9743464344	-
dc.identifier.uri	http://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/5969	-
dc.description	วิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2543	en
dc.description.abstract	วิทยานิพนธ์นี้นำเสนอการศึกษาความเค้นของอุปกรณ์ในวงจรบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์ โดยศึกษาการทำงานของบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์ที่มีการออกแบบและเงื่อนไขการทำงานที่แตกต่างกัน เพื่อค้นหาสาเหตุของการเกิดความเค้นของอุปกรณ์ในวงจรบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์เนื่องจากอุปกรณ์บางส่วนและการทำงานของวงจรบัลลาสต์มีลักษณะไม่เป็นเชิงเส้นทำให้ยากต่อการวิเคราะห์อย่างถูกต้อง ดังนั้นการวิเคราะห์วงจรบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์จึงใช้วิธีการประมาณวงจรบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์ด้วยวงจรสมมูลสำหรับความถี่หลักมูลที่ใช้ตัวต้านทานแบบเชิงเส้นแทนหลอดฟลูออเรสเซนต์และใช้วิธีการทางกราฟประกอบการวิเคราะห์วงจรด้วย การศึกษาความเค้นของอุปกรณ์ในวงจรบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์แยกเป็นสองกรณีคือ การศึกษาความเค้นที่เกิดขึ้นในขณะจุดหลอดและการศึกษาความเค้นที่เป็นผลจากการเปลี่ยนแปลงขนาดของแรงดันไฟฟ้ากระแสสลับด้านเข้า และการเปลี่ยนแปลงคุณสมบัติของหลอดพร้อมทั้งได้นำเสนอวิธีการแก้ไขการเกิดความเค้นแต่ละแบบไว้ด้วย การทดสอบความถูกต้องของผลการวิเคราะห์และแนวทางการแก้ไขทำโดยการทดลองด้วยวงจรจริง	en
dc.description.abstractalternative	This thesis presents a study of device stress is in electronic ballasts. Circuit operations under different environment conditions and circuit designs were analyzed to identify the origins of the stress in high frequency electronic ballasts. Because some of the circuit components in the lamp ballast system and their operation are nonlinear, exact circuit analysis and design could hardly be done. Fundamental frequency approximation analytical technique, linear lamp model, as well as graphical technique, were used to establish the circuit equations. Two main catagories of device stress were studied: stresses occuring during lamp ignition and stresses stimulated by both the input voltage variation and the lamp equivalent resistance change. Stress reduction techniques for each type of stress were proposed and verified experimentally.	en
dc.format.extent	1516444 bytes	-
dc.format.mimetype	application/pdf	-
dc.language.iso	th	es
dc.publisher	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย	en
dc.rights	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย	en
dc.subject	บัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์	en
dc.subject	ความเครียดและความเค้น	en
dc.title	การลดความเค้นของอุปกรณ์ในบัลลาสต์อิเล็กทรอนิกส์	en
dc.title.alternative	Reduction of device stresses in electronic ballasts	en
dc.type	Thesis	es
dc.degree.name	วิศวกรรมศาสตรมหาบัณฑิต	es
dc.degree.level	ปริญญาโท	es
dc.degree.discipline	วิศวกรรมไฟฟ้า	es
dc.degree.grantor	จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย	en
dc.email.advisor	Youthana.K@chula.ac.th	-
Appears in Collections:	Eng - Theses

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
jirote.pdf		1.48 MB	Adobe PDF	View/Open

Show simple item record