Please use this identifier to cite or link to this item: https://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/6139
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.advisorปารเมศ ชุติมา-
dc.contributor.authorศิริวดี เอื้ออรัญโชติ-
dc.contributor.otherจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย. คณะวิศวกรรมศาสตร์-
dc.date.accessioned2008-03-03T08:33:41Z-
dc.date.available2008-03-03T08:33:41Z-
dc.date.issued2546-
dc.identifier.isbn9741737386-
dc.identifier.urihttp://cuir.car.chula.ac.th/handle/123456789/6139-
dc.descriptionวิทยานิพนธ์ (วศ.ม.)--จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2546en
dc.description.abstractเสนอแนวทางการควบคุมคุณภาพโดยใช้แนวทางของซิกซ์ซิกม่า เพื่อปรับปรุงข้อบกพร่องอันเนื่องมาจากคราบสกปรก (Contamination) ของกระบวนผลิตหัวอ่าน-เขียนสำหรับคอมพิวเตอร์ ซึ่งก่อนการปรับปรุงกระบวนการผลิตมีปริมาณของเสียเท่ากับ 245,153 DPPM ระบบการดำเนินการคุณภาพตามแนวทางของซิกซ์ซิกม่า จะใช้หลักการควบคุมคุณภาพเชิงสถิติเป็นสำคัญ ขั้นตอนตามวิธีการทางซิกซ์ ซิกม่า 5 ขั้นตอน โดยเริ่มจากขั้นตอนการนิยามปัญหา (Define) ขั้นตอนการวัดเพื่อกำหนดสาเหตุของปัญหา (Measure) ขั้นตอนการวิเคราะห์สาเหตุของปัญหา (Analyze) ขั้นตอนการปรับปรุงแก้ไขกระบวนการ (Improve) และขั้นตอนการควบคุมกระบวนการผลิต (Control) ตามลำดับ ในแต่ละขั้นของการสำรวจผลวิจัยสามารถระบุสาเหตุของปัญหา และแก้ไขโดยใช้หลักการทางสถิติวิศวกรรม ซึ่งขั้นตอนเริ่มต้นของการศึกษาได้นิยามปัญหา ศึกษาความแม่นยำและความถูกต้องของระบบการวัด การวิเคราะห์หาสาเหตุของปัญหาทำโดยแผนภาพแสดงเหตุและผล และเชื่อมโยงเพื่อหาความรุนแรงของปัญหาด้วยวิธีการ FMEA หลังจากนั้นวิเคราะห์สาเหตุต่างๆ เหล่านั้นว่ามีผลกระทบอย่างมีนัยสำคัญต่อกระบวนการผลิตหัวอ่าน-เขียน เมื่อสามารถระบุถึงสาเหตุของปัญหา ขั้นตอนต่อไปคือการปรับปรุงเพื่อลดสัดส่วนของเสียเนื่องจากคราบสกปรก (Contamination defect proportion) โดยใช้หลักการทางสถิติวิศวกรรม เพื่อเป็นการยืนยันผลการทดลองเช่นเดียวกัน สุดท้ายคือการจัดทำมาตราการควบคุมและป้องกันปัญหา จากข้อมูลหลังการปรับปรุงกระบวนการพบว่า สามารถที่จะลดความสูญเสียได้เป็นจำนวนเงิน US$8,091 โดยพิจารณาจากระยะเวลาระหว่างการดำเนินการวิจัย ซึ่งคิดเป็น 53 เปอร์เซนต์ของจำนวนของเสียที่ลดได้จากการปรับปรุงกระบวนการผลิตมีปริมาณของเสียเท่ากับ 79,080DPPMen
dc.description.abstractalternativeTo reduce the contamination defects which causes high fallout in the slider. The current process has 245,153 DPPM. Six sigma method is used as a process tools in this research. It consists 5 phases which are define phase, measurement phase, analyze phase, improve phase and control phase. In each phase of six sigma method mainly applies the statistical techniques to make decisions for any key input process variable. The first phase is problem define phase. The second phase is to determine the repeatability and reproducibility of measurement system. Key process input variables are listed by cause and effect diagram, cause and effect matrix and FMEA (Failure mode effect analysis). The third phase is to use statistic to analyze the actual root cause. The fourth phase is to improve all the key process input to reduce contamination defect. Finally, control in the acceptance level by control phase. The data of contamination defects after improving the process show 79,080 DPPM which is equal to 53% of the amount ofdefect after improving the process. In addition, it could reduce cost about US$8,091.en
dc.format.extent2610048 bytes-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.language.isothes
dc.publisherจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัยen
dc.rightsจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัยen
dc.subjectฮาร์ดดิสก์en
dc.subjectการควบคุมการผลิตen
dc.subjectซิกซ์ซิกมา (มาตรฐานการควบคุมคุณภาพ)en
dc.subjectการควบคุมคุณภาพen
dc.titleการลดการปนเปื้อนจากกระบวนการผลิตหัวอ่าน-เขียนสำหรับคอมพิวเตอร์ โดยการประยุกต์ใช้วิธีการซิกซ์ ซิกม่าen
dc.title.alternativeContamination reduction in slider production process by applying six sigma approachen
dc.typeThesises
dc.degree.nameวิศวกรรมศาสตรมหาบัณฑิตes
dc.degree.levelปริญญาโทes
dc.degree.disciplineวิศวกรรมอุตสาหการes
dc.degree.grantorจุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัยen
dc.email.advisorParames.C@Chula.ac.th-
Appears in Collections:Eng - Theses

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Siriwadee.pdf2.55 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.