การเปรียบเทียบคุณสมบัติทางจิตมิติของแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือกกับแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือกปรับปรุงใหม่ที่ใช้วิธีการตรวจให้คะแนนที่ต่างกัน

Abstract

การวิจัยครั้งนี้มีวัตถุประสงค์เพื่อวิเคราะห์เปรียบเทียบคุณสมบัติทางจิตมิติของแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือก (MTF) กับแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือกปรับปรุงใหม่ (MMTF) ที่ใช้วิธีการตรวจให้คะแนนแบบ 0-1 กับวิธีการตรวจให้คะแนนแบบรายตัวเลือก กลุ่มตัวอย่างเป็นนักเรียนชั้นมัธยมศึกษาปีที่ 2 จำนวน 1,150 คน เครื่องมือที่ใช้ในการวิจัย คือ แบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือก ที่มี 4 ตัวเลือกและ 5 ตัวเลือก วิเคราะห์คุณสมบัติทางจิตมิติของข้อสอบและแบบสอบตามทฤษฏีการตอบสนองข้อสอบ (IRT) โมเดลโลจิสติก 3 พารามิเตอร์และโมเดลการตอบสนองข้อสอบแบบตรวจให้คะแนนมากกว่า 2 ค่า และวิเคราะห์ความแปรปรวนสองทาง (two-way ANOVA) โดยใช้โปรแกรม MULTILOG และ SPSS ผลการวิจัยพบว่า: 1) ค่าพารามิเตอร์ของข้อสอบ ได้แก่ ค่าความยาก และค่าอำนาจจำแนก ของแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือกปรับปรุงใหม่ (MMTF) ที่ใช้วิธีการตรวจให้คะแนนแบบ 0-1 มีค่าสูงกว่าแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือก (MTF) ที่ใช้วิธีการตรวจให้คะแนนแบบ 0-1 อย่างมีนัยสำคัญทางสถิติที่ระดับ .05 ส่วนค่าโอกาสในการเดามีค่าต่ำกว่าอย่างมีนัยสำคัญทางสถิติที่ระดับ .01 และค่าฟังก์ชันสารสนเทศของข้อสอบของแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือกปรับปรุงใหม่ (MMTF) ที่ระดับความสามารถปานกลางและที่ระดับความสามารถสูง มีค่าสูงกว่าแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือก (MTF) อย่างมีนัยสำคัญทางสถิติที่ระดับ .05 2) ค่าพารามิเตอร์ของข้อสอบ ได้แก่ ค่าอำนาจจำแนกของแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือกปรับปรุงใหม่ (MMTF) ที่ใช้วิธีการตรวจให้คะแนนแบบรายตัวเลือก มีค่าสูงกว่า แบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือก (MTF) ที่ใช้วิธีการตรวจให้คะแนนแบบรายตัวเลือก อย่างมีนัยสำคัญทางสถิติที่ระดับ .05 และค่าฟังก์ชันสารสนเทศของข้อสอบของแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือกปรับปรุงใหม่ (MMTF) ที่ระดับความสามารถต่ำและระดับความสามารถปานกลาง มีค่าสูงกว่าแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือก (MTF) อย่างมีนัยสำคัญทางสถิติที่ระดับ .05 3) ค่าพารามิเตอร์ของข้อสอบ ได้แก่ ค่าอำนาจจำแนกของแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือก (MTF) ที่ใช้วิธีการตรวจให้คะแนนแบบ 0-1 มีค่าสูงแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือก (MTF) ที่ใช้วิธีการตรวจให้คะแนนแบบรายตัวเลือก อย่างมีนัยสำคัญทางสถิติที่ระดับ .01 และค่าฟังก์ชันสารสนเทศของข้อสอบของแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือก (MTF) ที่ใช้วิธีการตรวจให้คะแนนแบบรายตัวเลือก ที่ระดับความสามารถต่ำและความสามารถปานกลางสูงกว่าแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือก (MTF) ที่ใช้วิธีการตรวจให้คะแนนแบบ 0-1อย่างมีนัยสำคัญทางสถิติที่ระดับ .05 ส่วนที่ระดับความสามารถสูง ค่าฟังก์ชันสารสนเทศของข้อสอบของแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือก (MTF) ที่ใช้วิธีการตรวจให้คะแนนแบบ 0-1 มีค่าสูงกว่าค่าฟังก์ชันสารสนเทศของข้อสอบของของแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือก (MTF) ที่ใช้วิธีการตรวจให้คะแนนแบบรายตัวเลือก อย่างมีนัยสำคัญทางสถิติที่ระดับ .01 4) ค่าพารามิเตอร์ของข้อสอบ ได้แก่ ค่าอำนาจจำแนกของแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือกปรับปรุงใหม่ (MMTF) ที่ใช้วิธีการตรวจให้คะแนนแบบ 0-1 มีค่าสูงแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือกปรับปรุงใหม่ (MMTF) ที่ใช้วิธีการตรวจให้คะแนนแบบรายตัวเลือก อย่างมีนัยสำคัญทางสถิติที่ระดับ .01 และค่าฟังก์ชันสารสนเทศของข้อสอบที่ระดับความสามารถต่ำและที่ระดับความสามารถปานกลาง ค่าฟังก์ชันสารสนเทศของข้อสอบเฉลี่ยของแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือกปรับปรุงใหม่ (MMTF) ที่ใช้วิธีการตรวจให้คะแนนแบบรายตัวเลือก มีค่าสูงกว่าค่าฟังก์ชันสารสนเทศของข้อสอบเฉลี่ยของของแบบสอบถูกผิดหลายตัวเลือกปรับปรุงใหม่ (MMTF) ที่ใช้วิธีการตรวจให้คะแนนแบบ 0-1 อย่างมีนัยสำคัญทางสถิติที่ระดับ .01 5) การศึกษาปฏิสัมพันธ์ระหว่างรูปแบบของแบบสอบกับวิธีการตรวจให้คะแนนที่มีต่อค่าอำนาจจำแนกของแบบสอบ พบว่า มีปฏิสัมพันธ์กันอย่างมีนัยสำคัญทางสถิติที่ระดับ .01